FR-Basic UV/NIR-HR 膜厚儀
- 公司名稱 邁可諾技術(shù)有限公司
- 品牌 其他品牌
- 型號 FR-Basic UV/NIR-HR
- 產(chǎn)地
- 廠商性質(zhì) 代理商
- 更新時間 2024/5/16 18:25:49
- 訪問次數(shù) 2528
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| 產(chǎn)地類別 | 進口 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 醫(yī)療衛(wèi)生,生物產(chǎn)業(yè),電子/電池,航空航天,汽車及零部件 |
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干涉儀是利用干涉原理測量光程之差從而測定有關(guān)物理量的光學儀器。兩束相干光間光程差的任何變化會非常靈敏地導致干涉條紋的移動，而某一束相干光的光程變化是由它所通過的幾何路程或介質(zhì)折射率的變化引起，所以通過干涉條紋的移動變化可測量幾何長度或折射率的微小改變量，從而測得與此有關(guān)的其他物理量。測量精度決定于測量光程差的精度，干涉條紋每移動一個條紋間距，光程差就改變一個波長(～10-7米)，所以干涉儀是以光波波長為單位測量光程差的，其測量精度之高是任何其他測量方法所*的。
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