• IM4000型離子研磨儀系統低加速電壓觀察時分辨率更高，可更好地觀察樣品表面的細微形狀和更有效地降低樣品的損壞

• IM4000型離子研磨儀系統全新設計的電子光學系統和信號處理技術實現了高速掃描和低噪音的觀察

• 和以前的常規掃描電子顯微鏡相比^＊2，自動功能縮短^＊3了大約11秒

• 具有在低真空時可以非常好地觀察樣品表面的細微形狀的“UVD（超高靈敏度可變壓力探測器）”^＊4

• 具有實現了實時立體成像的“實時立體觀察功能”^＊4

^（*2）：和日立SEM S-3400N相比
^（*3）：根據觀察條件的不同，時間會有變動

 具有實現了“3kV加速電壓7nm分辨率”的全新電子光學系統, 可實現實時立體成像的“實時立體觀察功能”^＊1, 以及更高檢測效率的 “UVD超高靈敏度可變壓力檢測器”^＊1。