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化工儀器網>產品展廳>測量/計量儀器>傳感器>其它傳感器>SG-A 光焱科技圖像傳感器測試儀

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SG-A 光焱科技圖像傳感器測試儀

具體成交價以合同協議為準
  • 公司名稱 光焱科技股份有限公司
  • 品牌 Enlitech
  • 型號 SG-A
  • 產地
  • 廠商性質 生產廠家
  • 更新時間 2025/3/27 11:52:14
  • 訪問次數 4246

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聯系我們時請說明是化工儀器網上看到的信息,謝謝!


光焱科技股份有限公司介紹

 

Enlitech光焱科技創建于2009年,專精量子效率(Quantum Efficiency/ SR/ IPCE)測量,從事科學儀器的研發、客制化生產并提供客戶一站式解決方案及服務。

 

  • R&D 創新研發、技術整合、客戶端解決方案

 

在日新月異的太陽能光伏/半導體/材料科學/化學領域中,為客戶預先提供“下一步”解決方案,幫助客戶實現在科學研究、技術和產業領域的專業和創新突破。我們擁有光學技術、機構設計、電子與電控技術整合、軟體與資料庫設計開發,根據產業動態、豐富業務經驗,為客戶提供產品與專案企劃、咨詢需求到系統運營的整合性服務。成功協助客戶在半導體材料、太陽能電池、鈣鈦礦太陽能電池(Perovskite Solar Cell)、新型材料研究及影像傳感器(CMOS Sensor)、相機(含手機相機、工業相機及科學及相機)等領域的研發上取得許多重大突破并獲得*成果。

 

  • 鈣鈦礦太陽能電池(Perovskite Solar Cell)應用服務

 

擴展鈣鈦礦太陽能電池(Perovskite Solar Cell, PSC)應用領域、提高轉換效率,是近年前沿研究的主要課題。近十年,鈣鈦礦太陽能電池光電轉換效率的成長紀錄不斷刷新世界紀錄,目前已達到23.3%,成為太陽能電池領域的新秀!由于鈣鈦礦太陽電池具有高度不穩定性、衰減速率快等特性,成為研究人員面臨的挑戰。我們針對鈣鈦礦太陽能電池的特性,提供涵蓋設計、研發、軟體、測樣、分析管理等測量儀器與整合方案,讓客戶能有效、準確地測出鈣鈦礦太陽能電池的轉換效率,為客戶研究創新帶來優勢。

 

  • 多元產業應用服務

 

光焱科技將光電檢測技術,延伸至半導體、材料科學、LED發光材料、航太應用及生醫領域,提供專案研發和實驗室儀器配套應用的制造、整合、測試和維護管理供應鏈服務。服務亦涵蓋標定校正設備的客制研發,為科學研究、檢測認證、新產品開發、制造生產提供完整可靠的一站式解決方案。

技術與維護服務

 

光焱科技自2012年起陸續在大陸、日本、美國、中東及印度建立銷售通路及售后服務據點,我們致力于提供給客戶完整的檢測分析工具,即時提供合適的解決方案,協力科學研究、助力產業升級創新。我們的標準化產品及專案能依據客戶需求進行調整和擴展,服務分為四大類別:

 

*專案解決方案:依據客戶需求進行新產品研發/產品升級/系統整合等服務。

 

*One-stop-shop 一站式統合服務:涵蓋多元的廠牌合作服務。

 

*維護管理服務:提供維修及產品健檢管理服務。

 

*快速支援服務:涵蓋售前售后客服支援、技術支援、科研支援服務。

 

QE量子效率測試儀,3A

應用領域 電子/電池 全光譜的波長范圍 300-1100nm或350-1000nm(PTC)
動態范圍 80dB、100dB或140dB 產地類別 進口
價格區間 面議 測量模式 咨詢光焱科技專家

產品介紹


  SG-A 可提供最完整的CMOS圖像傳感器參數量測分析,例如全光譜量子效率(QE)、整體系統增益(K)、時間暗噪聲、信噪比、絕對靈敏度閾值、飽和容量、動態范圍、暗訊號非均勻性 (DSNU)、光響應非均勻性 (PRNU)、線性誤差和主光線角度 (CRA)。


  待測元件可以是多種類型的 CMOS 影像感測器模塊。 檢測程序符合EMVA 1288標準。


  因此,SG-A CMOS影像傳感器測試儀可用于進行晶圓級光學檢查、工藝參數控制、微透鏡設計、微透鏡驗證。 SG-A CMOS 影像傳感器測試儀的高準直光束 (< 1°) 可以克服傳統光學系統(如積分球系統)無法解決的新制造工藝的檢測難題。


  這些制成包括小像素(< 1微米)、BSI和3D堆疊、微透鏡、新的拜耳陣列設計等。



特色


● 無損光學檢測

  ● 高準直光束角度;<0.05°、 <0.1°、 <0.5°、 <1°、 <3°(不同型號)。

  ● 高均勻光斑:≥ 99%。

  ● 光源不穩定度≤1%。

  ● 高動態范圍測試能力:80dB~140dB(不同型號)。

  ● 可測試 CMOS 圖像傳感器參數:量子效率、光譜響應、系統增益、靈敏度、動態范圍、暗電流/噪聲、訊噪比、飽和容量、線性誤差 (LE)、暗電流非均勻性 (DCNU)、光響應非均勻性 (PRNU)、主光線角度 (CRA)。

  ● 全光譜波長范圍:300nm-1100nm 或 350nm~1000nm(依型號而定)。

  ● 波長可擴展至1700nm或更長。

  ● 待測元件封裝:CIS 模組、PCB 板級、CIS 相機,含/不含微透鏡。

  ● SG-A 與待測元件之間可透過「直接通訊」或「握手通訊」進行數據交換。

  ● 客制化測試夾具和平臺(手動或自動,最多 6 軸)。

  ● 功能強大的分析軟件ARGUS®。

  ● 應用:指紋辨識(CIS+鏡頭、CIS+準直器、TFT陣列感測器)、CIS微透鏡設計、晶圓級光學檢測、CIS DSP芯片算法開發、硅基TFT感測器面板、飛行時間相機感測器、近接感測器(量子效率、靈敏度、線性度、訊噪比等)、d-ToF 感測器、i-ToF 感測器、多光譜感測器、環境光感測器(ALS)、屏幕下指紋識別 (FoD) 感測器。



系統設計


光焱科技圖像傳感器測試儀

規格



SG-A CMOS 圖像傳感器測試儀功能強大,因此相關規格和配件非常齊全

以下為主要功能規格:

  ● 全光譜波長范圍:300-1100nm 或 350-1000nm (PTC)
  ● 波長范圍可擴展至 1700nm 或更高。
  ● 單一波長光源:470nm、530nm、630nm、940nm (±5nm) 或定制
  ● 動態范圍:80dB、100dB 或 140dB
  ● 測試夾具:DUT≤ 100mm x 100mm x 30mm(高)[Basic type] 或定制
  ● 平臺:非、手動 3 軸或 6 軸(手動 + 自動)平臺(可定制)



應用

光焱科技SG-A CMOS圖像傳感器測試儀可用于:


 ● 指紋識別:(CIS+鏡頭、CIS+準直器、TFT-陣列傳感器)

 ● CIS的微透鏡設計,晶圓級光學檢查

 ● CIS DSP芯片的算法開發

 ● Si TFT傳感器面板

 ● 飛行時間相機傳感器

 ● 近距離傳感器:(量子效率、靈敏度、線性度、SNR等)

 ● d-ToF傳感器、i-ToF傳感器

 ● 多光譜傳感器

 ● 環境光傳感器:(ALS)

 ● 指紋顯示(FoD)傳感器











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