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SPD2200 新型單光子偵測器特性分析設備

具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 公司名稱 光焱科技股份有限公司
  • 品牌 Enlitech
  • 型號 SPD2200
  • 產地
  • 廠商性質 生產廠家
  • 更新時間 2025/3/27 12:01:04
  • 訪問次數(shù) 3962

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光焱科技股份有限公司介紹

 

Enlitech光焱科技創(chuàng)建于2009年,專精量子效率(Quantum Efficiency/ SR/ IPCE)測量,從事科學儀器的研發(fā)、客制化生產并提供客戶一站式解決方案及服務。

 

  • R&D 創(chuàng)新研發(fā)、技術整合、客戶端解決方案

 

在日新月異的太陽能光伏/半導體/材料科學/化學領域中,為客戶預先提供“下一步”解決方案,幫助客戶實現(xiàn)在科學研究、技術和產業(yè)領域的專業(yè)和創(chuàng)新突破。我們擁有光學技術、機構設計、電子與電控技術整合、軟體與資料庫設計開發(fā),根據(jù)產業(yè)動態(tài)、豐富業(yè)務經驗,為客戶提供產品與專案企劃、咨詢需求到系統(tǒng)運營的整合性服務。成功協(xié)助客戶在半導體材料、太陽能電池、鈣鈦礦太陽能電池(Perovskite Solar Cell)、新型材料研究及影像傳感器(CMOS Sensor)、相機(含手機相機、工業(yè)相機及科學及相機)等領域的研發(fā)上取得許多重大突破并獲得*成果。

 

  • 鈣鈦礦太陽能電池(Perovskite Solar Cell)應用服務

 

擴展鈣鈦礦太陽能電池(Perovskite Solar Cell, PSC)應用領域、提高轉換效率,是近年前沿研究的主要課題。近十年,鈣鈦礦太陽能電池光電轉換效率的成長紀錄不斷刷新世界紀錄,目前已達到23.3%,成為太陽能電池領域的新秀!由于鈣鈦礦太陽電池具有高度不穩(wěn)定性、衰減速率快等特性,成為研究人員面臨的挑戰(zhàn)。我們針對鈣鈦礦太陽能電池的特性,提供涵蓋設計、研發(fā)、軟體、測樣、分析管理等測量儀器與整合方案,讓客戶能有效、準確地測出鈣鈦礦太陽能電池的轉換效率,為客戶研究創(chuàng)新帶來優(yōu)勢。

 

  • 多元產業(yè)應用服務

 

光焱科技將光電檢測技術,延伸至半導體、材料科學、LED發(fā)光材料、航太應用及生醫(yī)領域,提供專案研發(fā)和實驗室儀器配套應用的制造、整合、測試和維護管理供應鏈服務。服務亦涵蓋標定校正設備的客制研發(fā),為科學研究、檢測認證、新產品開發(fā)、制造生產提供完整可靠的一站式解決方案。

技術與維護服務

 

光焱科技自2012年起陸續(xù)在大陸、日本、美國、中東及印度建立銷售通路及售后服務據(jù)點,我們致力于提供給客戶完整的檢測分析工具,即時提供合適的解決方案,協(xié)力科學研究、助力產業(yè)升級創(chuàng)新。我們的標準化產品及專案能依據(jù)客戶需求進行調整和擴展,服務分為四大類別:

 

*專案解決方案:依據(jù)客戶需求進行新產品研發(fā)/產品升級/系統(tǒng)整合等服務。

 

*One-stop-shop 一站式統(tǒng)合服務:涵蓋多元的廠牌合作服務。

 

*維護管理服務:提供維修及產品健檢管理服務。

 

*快速支援服務:涵蓋售前售后客服支援、技術支援、科研支援服務。

 

QE量子效率測試儀,3A

價格區(qū)間 面議 應用領域 電子/電池,汽車及零部件
暗計數(shù)(Dark?Count?Rate) DCR 產地類別 進口
測量模式 咨詢光焱科技專家

特色

SPD2200具備全光譜性能測試包含


*全光譜光譜回應(SR, Spectral Responsivity)

*全光譜量子效率(EQE, External Quantum Efficiency)

*全光譜光子探測率(PDP, Photon Detection Probability)

*暗計數(shù)DCR (Dark Count Rate)

*崩潰電壓BDV (Break-Down Voltage)


SPD2200亦能夠測試SPD的單光子辨析特性分析,包含:

*Jitter

*Afterpulsing probability

*Diffusion tail

*SNR

SPD2200整合了所有*進光學與電學系統(tǒng),搭配光焱科技多年光感測器測試與分析的經驗,提供完整與便利的軟體控制介面與分析功能。 SPD2200可幫助您節(jié)省系統(tǒng)搭設的時間成本,並降低測試結果的不確定性。 加快產品的開發(fā)週期,提升產品的競爭力。

實證

*SPAD的暗計數(shù)與偏壓關係圖

新型單光子偵測器特性分析設備

*SPAD暗計數(shù)與崩潰電壓

新型單光子偵測器特性分析設備

*在不同電壓下SPAD光子探測效率的PDE光譜

新型單光子偵測器特性分析設備

*SPAD的Jitter測量

新型單光子偵測器特性分析設備








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