產品關鍵詞：電吸收譜、電場誘導吸收光譜、電荷注入吸收光譜、EIEAS、CIEAS、電荷調制吸收譜、斯塔克效應、帶隙測定、激子態、量子阱子帶躍遷、電場誘導效應、注入電荷誘導效應

Keywords: electric absorption spectrum, electric field induced absorption spectrum, charge injection absorption spectrum, EIEAS, CIEAS, charge modulated absorption spectrum, Stark effect, band gap measurement, exciton state, quantum well band transition, electric field induced effect, injected charge induced effect

▌ 產品簡介

電吸收光譜儀（EAS）是一種通過測量樣品在施加電場時對光的吸收變化來研究半導體和其他材料屬性的技術。通過電吸收光譜，可以得到吸收系數與電場的一階、二階等高階效應的樣品信息。其中，斯塔克效應（Box1）是典型導致電吸收信號產生的物理效應，此外還可以用來研究電荷調制吸收譜等。Excion 包括電場誘導吸收光譜（EIEAS）和電荷注入吸收光譜（CIEAS）兩大模塊功能，方便用戶靈活研究電場誘導效應和注入電荷誘導效應。

Excion 是業內范圍內首套電吸收光譜商業化設備，由東譜科技的科研人員和工程師攜手來自劍橋大學、香港城市大學、中山大學、華南理工大學的專家成員聯合研發而成。

從應用方向上，EAS 具有廣泛的應用范圍，特別是在半導體物理和光電子學領域。以下是一些EAS應用的關鍵領域和方向：

（1）帶隙測定：EAS可用于測量半導體的帶隙。在外加電場作用下，靠近帶邊的吸收起始點會發生移動，從而允許精確確定帶隙能量。

（2）激子態：在半導體中，激子——電子和空穴的束縛態——可以使用 EAS 進行研究。外加電場可以改變這些激子存在所需的能量，這表現為吸收光譜的變化。

（3）量子阱子帶躍遷(intersubband transition)：對于像量子阱、線和點這樣的量子限制結構，EAS 可以用來觀察子帶間的躍遷，這對于理解材料的尺寸對電子性質的影響非常重要。

（4）材料質量評估：EAS可以幫助檢測半導體樣品中的雜質和缺陷。吸收光譜的變化可能表明存在影響電子結構的缺陷或雜質。

（5）光電子器件特性表征：在開發LED、光電探測器和太陽能電池等器件時，EAS可以提供有關材料在工作狀態下的行為的理解。這包括研究電場對光發射或吸收過程效率的影響。

（6）調制器和開關：基于半導體的光調制器和開關依賴于斯塔克效應，這可以通過EA光譜學來表征和優化。

（7）非線性光學特性：具有非線性光學特性的材料可以使用EAS進行研究，以了解它們如何與強電場相互作用，這對于光信號處理和通信應用至關重要。

（8）量子信息處理：在新興的量子計算領域，EAS可以協助設計和分析可能作為量子比特（qubits）或其他量子光學組件的半導體結構。 總之，EA光譜學的應用使研究人員和工程師能夠深入了解材料的電子屬性，有助于推進材料科學的發展，并優化光電子器件，服務于包括半導體、電信、能源、照明及顯示和量子計算等在內的各個行業。

Excion電吸收光譜儀的一般使用流程如下：

（1）樣品準備： 將半導體或其他材料的薄膜樣品準備好，并附上電接觸點，以便在其上施加電場。常見的方式是把樣品制備成三明治結構。

（2）施加電場： 向樣品施加直流或低頻電場，可以在軟件靈活設置電場的大小、頻率、偏置值等。

（3）光吸收測量： 在EIEAS 或CIEAS的模式下，設置掃描波長、掃描電場頻率、掃描電場大小等測試變量，進行變量依賴的光吸收測量。

（4）數據分析： 通過比較有無電場時的吸收光譜，可以觀察到對應于材料中不同電子態之間轉換的吸收變化。施加電場可能會導致吸收峰的位移，表明電子在能級間轉換所需能量的變化。Excion 提供了數據平滑、分峰、一階導、二階導、指數擬合、多項式擬合等豐富的數據分析功能。

（5）數據導出：Excion提供便捷的數據導出功能，可以導出TXT/CSV等文本格式的數據。

（6）數據解釋：用戶從Excion獲得的數據可以用來研究半導體材料的各種性質，包括帶隙（價帶和導帶之間的能量差）、帶邊緣附近的態密度、內建電場以及可能影響電子結構的缺陷或雜質的存在等等。

Excion憑借其高靈敏度與精確度、多功能性、易用性、高通量檢測、耐用性、完善的技術支持與售后服務等優點，成為工業和科研領域的理想選擇。

▌ 產品特點

□ 多功能性：Excion 開發借鑒了前沿的電吸收科研與工業應用研究成果，集成了EIEAS和CIEAS兩種原理模式，集成了透射與反射兩種光路檢測模式，還可以進行多達8種以上的物理變量掃描與單點檢測測試；

□ 高靈敏度與精確度：Excion 采用了新的調制、傳感與檢測技術，能夠捕捉到極其微小的變化，其測量結果具有高度的可靠性和重復性，確保了數據的準確性；

□ 寬光譜范圍：這款光譜儀覆蓋了從紫外到近紅外（200-2500nm）的廣泛波段，適用于多種不同的電吸收光譜分析需求；

□ 高通量檢測：人工智能的設計理念，高程度的自動化設計，高速數據采集系統使得 Excion 能夠迅速完成光譜掃描，大大提高了工作效率和實驗通量；

□ 易于操作：Excion的用戶界面設計直觀易懂，即使是非專業人員也能輕松上手，具有典型的“Plug & Play”和“Turn-key”特征。；

□ 穩定性與可靠性：Excion采用高質量的零部件和精密的制造工藝，引入了完善的錯誤處理與設計，確保了儀器長期穩定運行，減少了維護成本；

□ 完善的技術支持與售后服務：我們為 Excion 提供全面的技術支持和保修服務，確保用戶在使用過程中無后顧之憂。

▌ 測量模式

測量模式

□ 單點測量；

□ 掃描測量；

• 波長掃描
  

• 頻率掃描
  

• 相位掃描
  

• 光源強度掃描
  

• 電場強度掃描
  

• 注入電流掃描
  

• 溫度掃描：變溫測試
  

原理模式  

• 電場誘導吸收光譜（EIEAS）
  

• 電荷注入吸收光譜（CIEAS）
  

• 電荷調制吸收譜等
  

• 電吸收譜
  

▌ 功能參數

▌ 產品應用

□ 帶隙測定；

□ 激子態研究；

□ 量子阱子帶躍遷；

□ 材料質量評估；

□ 光電子器件特性表征；

□ 調制器和開關；

□ 非線性光學特性；

□ 量子信息處理等。