日本Otsuka大塚ZETA粒徑測試系統ELSEneoSE
- 公司名稱 成都藤田科技有限公司
- 品牌 OTSUKA/日本大塚
- 型號
- 產地
- 廠商性質 代理商
- 更新時間 2025/2/21 14:25:33
- 訪問次數 43
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產地類別 | 進口 | 價格區間 | 面議 |
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應用領域 | 綜合 |
日本Otsuka大塚ZETA粒徑測試系統ELSEneoSE-成都藤田科技提供
產品信息
特點
● 可根據用途增加功能(分子量測定、粒子濃度測定、微流變測定、凝膠網眼結構分析、粒徑多角度測定)
● 可以用標準流動池連續測量粒徑和zeta電位
● 可以測量從稀薄到濃厚溶液(~40% )的廣泛濃度范圍的粒徑zeta電位
● 可以在高鹽濃度下測定平板狀樣品的zeta電位
● 可在0~90℃的廣闊溫度范圍內進行測量
● 通過溫度梯度功能,可對蛋白質等的變性及相變溫度進行解析
● 通過樣品池內的實測電氣浸透流圖分析,提供高精度的ZETA電位測量結果
● 可安裝熒光濾光器(選配)
用途
非常適用于界面化學、無機物質、半導體、聚合物、生物學、制藥和醫學領域的基礎研究和應用研究,不僅涉及微小顆粒,還涉及薄膜和平板表面的科學研究。
● 新型功能材料領域
- 燃料電池相關(碳納米管、富勒烯、功能膜、催化劑、納米金屬)
- 納米生物相關(納米膠囊、樹枝狀聚合物、DDS、納米生物粒子)、納米氣泡等。
● 陶瓷/著色材料工業領域
- 陶瓷(二氧化硅/氧化鋁/氧化鈦等)
- 無機溶膠的表面改性/分散/聚集控制
- 顏料的分散/聚集控制(炭黑/有機顏料)
- 漿料狀樣品
- 濾光器
- 浮游選定礦物的捕集材料的收集和研究
● 半導體領域
- 異物附著在硅晶片表面的原理解析
- 研磨劑和添加劑與晶片表面的相互作用的研究
- CMP漿料的相互作用
● 聚合物/化工領域
- 乳液(涂料/粘合劑)的分散/聚集控制,乳膠的表面改性(醫藥/工業)
- 聚電解質(聚苯乙烯磺酸鹽,聚羧酸等)的功能研究
- 功能納米顆粒紙/紙漿造紙過程控制和紙漿添加劑研究
● 制藥/食品工業領域
- 乳液(食品/香料/醫療/化妝品)分散/聚集控制及蛋白質的機能性檢測
- 脂質體/囊泡分散/聚集控制及表面活性劑(膠束)機能性檢測
原理
粒徑測量原理:動態光散射法(光子相關法)
由于溶液中的粒子根據粒子的大小在做布朗運動,粒子受到光照射時會得到的散射光。小粒子呈現快速波動,大粒子呈現緩慢波動。通過光子相關法分析這種波動,就可以求得粒度和粒度分布。
分析流程
zeta電位測量原理:電泳光散射法 (激光多普勒法)
對溶液中的粒子施加電場時,可以觀察到粒子電荷所對應的電泳動。籍由此電泳速度可以求得ZETA電位及電泳移動度。
電泳散射法將光照射在泳動中的粒子上得到散射光,根據散射光的多普勒位移量求得電泳速度。
因此也被稱之為激光多普勒(Laser Doppler)法。
參數
測量原理 | 粒徑 | 動態光散射法(光子相關法) |
ZETA電位 | 電泳光散射法(激光多普勒法) | |
分子量 | 靜態光散射法 | |
光學系統 | 粒徑 | 零差光學系統 |
ZETA電位 | 外差光學 | |
分子量 | 零差光學系統 | |
光源 | 高功率半導體激光器 | |
探測器 | 高靈敏度APD | |
樣品池單元 | ZETA電位:標準池 微量一次性池或濃縮池 | |
粒度/分子量:方形池 | ||
溫度 | 0~90℃(帶溫度梯度功能) | |
電源 | 220V ± 10% 250VA | |
尺寸(WDH) | 330(W)×565(D)×245(H) | |
重量 | 22Kg |
測量范圍
ZETA電位 | No effective limitations(無有效上限) |
電氣移動度 | -2×10-5 ~ 2×10-5 cm2/V·s |
粒徑 | 0.6nm ~ 10um |
● 對應范圍
測量溫度范圍 | 0~90℃ |
測量濃度范圍 | Zeta電位:0.001~40% 粒徑:0.00001%(0.1ppm)~40%*1 |
*1(標準粒子: 0.00001 ~ 10%、?;撬幔?~ 40%)
日本Otsuka大塚ZETA粒徑測試系統ELSEneoSE-成都藤田科技提供