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邁可諾技術有限公司

主營產品: 美國Laurell勻膠機,WS1000濕法刻蝕機,Cargille光學凝膠,EDC-650顯影機,NOVASCAN紫外臭氧清洗機

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洪山區珞獅南路147號未來城A棟
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FR-Basic UV/NIR-HR膜厚儀
膜厚儀
參考價 面議
具體成交價以合同協議為準
  • 型號 FR-Basic UV/NIR-HR
  • 品牌 其他品牌
  • 廠商性質 代理商
  • 所在地 北京市

更新時間:2024-05-16 18:25:49瀏覽次數:2547

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【簡單介紹】
產地類別 進口 應用領域 醫療衛生,生物產業,電子/電池,航空航天,汽車及零部件
品牌:希臘ThetaMetrisis
名詞:膜厚儀 膜厚儀、測厚儀、干涉儀、厚度測量儀
干涉儀是利用干涉原理測量光程之差從而測定有關物理量的光學儀器。兩束相干光間光程差的任何變化會非常靈敏地導致干涉條紋的移動,而某一束相干光的光程變化是由它所通過的幾何路程或介質折射率的變化引起,所以通過干涉條紋的移動變化可測量幾何長度或折射率的微小改變量,從而測得與此有關的其他物理量。
【詳細說明】

 

干涉儀是利用干涉原理測量光程之差從而測定有關物理量的光學儀器。兩束相干光間光程差的任何變化會非常靈敏地導致干涉條紋的移動,而某一束相干光的光程變化是由它所通過的幾何路程或介質折射率的變化引起,所以通過干涉條紋的移動變化可測量幾何長度或折射率的微小改變量,從而測得與此有關的其他物理量。測量精度決定于測量光程差的精度,干涉條紋每移動一個條紋間距,光程差就改變一個波長(10-7),所以干涉儀是以光波波長為單位測量光程差的,其測量精度之高是任何其他測量方法所*的。
、非接觸式測量:避免物件受損。
、三維表面測量:表面高度測量范圍為12nm - 120μm 
、多重視野鏡片:方便物鏡的快速切換。
、納米級分辨率:垂直分辨率可以達0.1nm
5、高速數字信號處理器:實現測量僅需幾秒鐘。
、掃描儀:閉環控制系統。
7、工作臺:氣動裝置、抗震、抗壓。
、測量軟件:基于windows 操作系統的用戶界面,強大而快速的運算

FR-Basic UV/VIS

200nm - 850nm

1nm - 80μm

FR-Basic VIS/NIR

350nm – 1000nm

12nm - 120μm

FR-Basic RED/NIR

700nm – 950nm

200nm - 250μm

FR-Basic UV/NIR-HR

200nm - 1100nm

1nm - 120μm

FR-Basic UV/NIR-EXT  

200nm - 1000nm          

3nm - 80μm

FR-Basic NIR

900nm - 1700nm

100nm - 200μm

FR-Basic D VIS/NIR

FR-Basic D UV/NIR

350nm – 1700nm

200nm – 1700nm

12nm – 300μm

1nm – 300μm



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