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邁可諾技術(shù)有限公司

主營產(chǎn)品: 美國Laurell勻膠機(jī),WS1000濕法刻蝕機(jī),Cargille光學(xué)凝膠,EDC-650顯影機(jī),NOVASCAN紫外臭氧清洗機(jī)

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SE-MSP光譜橢偏儀顯微分光光度計(jì)
光譜橢偏儀顯微分光光度計(jì)
參考價 面議
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 型號 SE-MSP
  • 品牌 其他品牌
  • 廠商性質(zhì) 代理商
  • 所在地 北京市

更新時間:2024-05-17 09:09:26瀏覽次數(shù):1536

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【簡單介紹】
產(chǎn)地類別 進(jìn)口 應(yīng)用領(lǐng)域 電子/電池
對于某些應(yīng)用(例如MEMS或半導(dǎo)體產(chǎn)品晶圓上的功能),希望有一個小的探測點(diǎn)。將顯微分光光度計(jì)與橢圓偏振光度計(jì)集成在一起后,工具的功能將大大擴(kuò)展。可通過橢圓偏振光度法在超薄膜上工作,并且還具有通過微反射法與橢圓度計(jì)和微分光光度計(jì)相結(jié)合的*配置的小面積微反射法。
【詳細(xì)說明】

光譜橢偏儀顯微分光光度計(jì)

型號:SE-MSP

可通過橢圓偏振光度法在超薄膜上工作,并且還具有通過微反射法與橢圓度計(jì)和微分光光度計(jì)相結(jié)合的*配置的小面積微反射法。TFProbe 3.3版本軟件將處理測量和分析。

 

對于某些應(yīng)用(例如MEMS或半導(dǎo)體產(chǎn)品晶圓上的功能),希望有一個小的探測點(diǎn)。將顯微分光光度計(jì)與橢圓偏振光度計(jì)集成在一起后,工具的功能將大大擴(kuò)展。SE-MSP型是為此目的而設(shè)計(jì)的。MSP在反射法模式下工作,并以法向入射角進(jìn)行測量,這是對非法向入射角SE設(shè)置的補(bǔ)充。SEMSP的波長范圍可以根據(jù)應(yīng)用需求進(jìn)行不同配置。所有選項(xiàng)都是可選的。

 

應(yīng)用范圍:

•半導(dǎo)體制造(PR,氧化物,氮化物..

•液晶顯示器(ITOPR,液晶盒間隙…..

•法醫(yī),生物膜和材料

•油墨,礦物學(xué),顏料,碳粉

•藥品,醫(yī)療器械

•光學(xué)涂料,TiO2SiO2Ta2O5..

•半導(dǎo)體化合物

MEMS / MOEMS中的功能膜

•非晶,納米和晶體硅

 

特征:

•易于使用,基于Window的軟件進(jìn)行操作

•*光學(xué)設(shè)計(jì)可實(shí)現(xiàn)*系統(tǒng)性能

•使用SExxxBA選項(xiàng)以0.001度的分辨率自動更改入射角

•高功率光源,適用于寬帶應(yīng)用

•基于陣列的探測器系統(tǒng)可確保快速測量

•測量多層膜的厚度和折射率,允許用戶設(shè)計(jì)無限層的模型

•系統(tǒng)附帶全面的光學(xué)常數(shù)數(shù)據(jù)庫

••TFProbe 3.3軟件允許用戶為每膜使用NK表,色散或有效介質(zhì)近似值(EMA

•三種不同的用戶級別控制:工程師模式,系統(tǒng)服務(wù)模式和簡易用戶模式

•靈活的工程師模式,適用于各種配方設(shè)置和光學(xué)模型測試

•強(qiáng)大的一鍵式按鈕解決方案,可進(jìn)行快速和常規(guī)的測量

•可配置的測量參數(shù),操作簡便

•全自動系統(tǒng)校準(zhǔn)和初始化

•直接從樣品信號獲得精確的樣品比對接口,無需外部光學(xué)器件

•精確的高度和傾斜度調(diào)整

•適用于許多不同類型,厚度不同的基材

•各種選件,附件可用于特殊配置,例如測繪臺,波長擴(kuò)展,焦點(diǎn)等

2D3D輸出圖形和用戶友好的數(shù)據(jù)管理界面

••用于微米區(qū)域選擇的數(shù)字成像工具

•集成反射計(jì),用于小范圍內(nèi)的反射測量

 

系統(tǒng)配置:

探測器:探測器陣列

波長范圍可配置為1901700nm

光源:基于SEMSP的波長范圍

入射角更改:自動,帶有程序設(shè)置

階段:手動或自動映射階段

軟件:TFProbe 3.3

SEMSP結(jié)合

電腦:Intel i3處理器

顯示器:22英寸寬屏液晶

電源:通用110 240 VAC / 50-60Hz6 A



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