EDX光譜儀 參考價(jià)：222222
EDX光譜儀X射線熒光EDX光譜機(jī)器設(shè)備被檢測(cè)的樣品的對(duì)象可以是液體、固體、粉末、灰漿、過濾物、實(shí)核體、碎片、微粒、袋裝等。儀器可自動(dòng)識(shí)別樣品種類，也可強(qiáng)制設(shè)定...
EDX檢測(cè)儀 參考價(jià)：222222
EDX檢測(cè)儀X射線熒光光譜EDX金屬元素成分化學(xué)檢測(cè)儀器設(shè)備采用了新的校準(zhǔn)技術(shù)，使儀器具有兩倍的計(jì)數(shù)率，從而具有更快的檢測(cè)速度和更好的性。采用了*重新設(shè)計(jì)的射線...
EDX檢測(cè)儀器 參考價(jià)：222222
EDX檢測(cè)儀器X射線熒光光譜EDX檢測(cè)機(jī)器設(shè)備新的濾波輪更輕、更薄，在位置上更加接近被測(cè)樣品，具有8 個(gè)濾波器，可適應(yīng)的配置，不同的元素采用不同的濾波器，產(chǎn)生好...
EDX分析儀 參考價(jià)：222222
EDX分析儀X射線熒光光譜EDX分析機(jī)器設(shè)備可分析合金類型： 鐵合金系列：不銹鋼、鉻/鉬合金鋼、低合金鋼、工具剛；2. 鎳基合金系列：鎳合金、鎳/鈷超合金；3....
EDX分析儀器 參考價(jià)：222222
EDX分析儀器X射線熒光光譜EDX分析機(jī)器設(shè)備百分比（%）顯示元素含量，元素顯示順序可按能量、濃度值、用戶自定義等方式排序,可統(tǒng)計(jì)多次測(cè)試的平均值,可接臺(tái)式電腦...
EDX測(cè)試儀 參考價(jià)：222222
EDX測(cè)試儀X射線熒光光譜EDX測(cè)試機(jī)器設(shè)備SDD X射線探測(cè)器具有驚人的計(jì)數(shù)率,達(dá)200000,比普通的Si-Pin X射線探測(cè)器獲取數(shù)據(jù)的能力10倍。超大型...
EDX測(cè)試儀器 參考價(jià)：222222
EDX測(cè)試儀器X射線熒光光譜EDX測(cè)試機(jī)器設(shè)備兩個(gè)光束段，不同的元素采用不同的電壓與電流，產(chǎn)生好的分析效果。EDX金屬元素成分含量測(cè)試儀器采用了*重新設(shè)計(jì)的射線...
XRF儀器 參考價(jià)：222222
XRF儀器X射線熒光光譜XRF設(shè)備大功率微型直板電子X射線管，內(nèi)置15kV~35kV多段可選擇的電壓。XRF檢測(cè)機(jī)器設(shè)備采用了Peltier恒溫冷卻系統(tǒng)，控測(cè)器...
檢測(cè)分析測(cè)試測(cè)定測(cè)量化驗(yàn)XRF儀器設(shè)備 參考價(jià)：222222
檢測(cè)分析測(cè)試測(cè)定測(cè)量化驗(yàn)XRF儀器設(shè)備XRF儀器設(shè)備更換電池?zé)o需關(guān)機(jī)，在系統(tǒng)運(yùn)作中拔掉電池，有超過90秒的時(shí)間可以插入一個(gè)新電池。XRF金屬元素含量檢測(cè)機(jī)器設(shè)備...
XRF檢測(cè)分析測(cè)試測(cè)定測(cè)量化驗(yàn)儀器設(shè)備 參考價(jià)：222222
XRF檢測(cè)分析測(cè)試測(cè)定測(cè)量化驗(yàn)儀器設(shè)備XRF檢測(cè)機(jī)器設(shè)備自動(dòng)診斷與故障報(bào)告功能：可通過INTERNET遠(yuǎn)程診斷機(jī)器故障與軟件升級(jí),可遠(yuǎn)程硬件升級(jí)。XRF金屬元素...
檢測(cè)分析測(cè)試測(cè)定測(cè)量化驗(yàn)XRF光譜儀器設(shè)備 參考價(jià)：112600
檢測(cè)分析測(cè)試測(cè)定測(cè)量化驗(yàn)XRF光譜儀器設(shè)備測(cè)量化驗(yàn)XRF光譜機(jī)器設(shè)備多種分析模式，包括基本參數(shù)，Compton歸一化，經(jīng)驗(yàn)校準(zhǔn)模式，光譜搭配。XRF光譜儀器設(shè)備...
XRF光譜檢測(cè)分析測(cè)試測(cè)定測(cè)量化驗(yàn)儀器設(shè)備 參考價(jià)：112600
XRF光譜檢測(cè)分析測(cè)試測(cè)定測(cè)量化驗(yàn)儀器設(shè)備XRF光譜分析機(jī)器設(shè)備性能分辨率Si-Pin X射線探測(cè)器。分析金屬元素成分XRF光譜儀器設(shè)備集中于ppm與百分比（％...
檢測(cè)分析測(cè)試測(cè)定測(cè)量化驗(yàn)光譜環(huán)保儀器設(shè)備 參考價(jià)：96000
檢測(cè)分析測(cè)試測(cè)定測(cè)量化驗(yàn)光譜環(huán)保儀器設(shè)備數(shù)據(jù)顯示：百分比（%）顯示元素含量，元素顯示順序可按能量、濃度值、用戶自定義等方式排序,可統(tǒng)計(jì)多次測(cè)試的平均值,可接臺(tái)式...
X射線熒光光譜測(cè)厚儀（EDXRF） 參考價(jià)：126000
X射線熒光光譜測(cè)厚儀（EDXRF） X射線熒光光譜（XRF）鍍層厚度檢測(cè)儀是針對(duì)電鍍層厚度測(cè)量的專業(yè)設(shè)備，采用X射線激發(fā)樣品中鍍層元素產(chǎn)生特征熒光，通過探測(cè)器分...
光譜環(huán)保分析儀器 參考價(jià)：96000
光譜環(huán)保分析儀器應(yīng)用于：歐洲、中國、日本、韓國RoHS/Weee 指令? 八大重金屬美國ASTM、歐洲EN-71、中國GB 6675－2007? 美國消費(fèi)產(chǎn)品安...
光譜環(huán)保測(cè)量儀 參考價(jià)：96000
光譜環(huán)保測(cè)量儀RoHS/WEEE模式:Cd、Cr、Pb、Hg、Br、Cl、Ca、、V、、Mn、Fe、Co、Ni、Cu、Zn、Hf、Ta、W、As、Se、Au、B...
OES火花光電直讀光譜儀 參考價(jià)：169609
OES火花光電直讀光譜儀OES火花光電直讀光譜鋼鐵成分檢測(cè)機(jī)器設(shè)備各種異型大尺寸工件可以方便地測(cè)試。夾具用于小試樣分析。可以選配的小樣品分析工作曲線。
OES火花光電直讀光譜儀器 參考價(jià)：169609
OES火花光電直讀光譜儀器OES火花光電直讀光譜機(jī)器設(shè)備升級(jí)版的專有ICAL標(biāo)準(zhǔn)化系統(tǒng)可以有效校正儀器，漂移和光強(qiáng)變化。ICAL標(biāo)準(zhǔn)化實(shí)現(xiàn)單塊標(biāo)準(zhǔn)代替了傳統(tǒng)光譜...
OES火花光電直讀光譜檢測(cè)儀 參考價(jià)：169609
OES火花光電直讀光譜檢測(cè)儀OES火花光電直讀光譜檢測(cè)機(jī)器設(shè)備為分析性能和低運(yùn)行成本以及小維護(hù)需求而設(shè)計(jì)全數(shù)字等離子發(fā)生器光源控制激發(fā)條件堅(jiān)固的光學(xué)系統(tǒng)配備性能...
OES火花光電直讀光譜檢測(cè)儀器 參考價(jià)：169609
OES火花光電直讀光譜檢測(cè)儀器OES火花光電直讀光譜檢測(cè)機(jī)器設(shè)備SPECTROMAXx中*的光學(xué)系統(tǒng)和光學(xué)部件有效融合，經(jīng)過嚴(yán)格密封，確保光室內(nèi)部一塵不染，雙光...
OES火花光電直讀光譜分析儀 參考價(jià)：169609
OES火花光電直讀光譜分析儀化驗(yàn)OES火花光電直讀光譜分析機(jī)器設(shè)備ICAL標(biāo)準(zhǔn)化實(shí)現(xiàn)單塊標(biāo)準(zhǔn)代替了傳統(tǒng)光譜儀的多塊標(biāo)準(zhǔn)試樣校準(zhǔn)過程，可以使每次用于標(biāo)準(zhǔn)化的時(shí)間節(jié)...
OES火花光電直讀光譜分析儀器 參考價(jià)：169609
OES火花光電直讀光譜分析儀器OES火花光電直讀光譜分析機(jī)器設(shè)備內(nèi)部容積的降低配合氬氣流優(yōu)化使氬氣消耗量減少了一半，同時(shí)降低了火花臺(tái)內(nèi)粉塵的沉積。
OES火花光電直讀光譜測(cè)試儀 參考價(jià)：169609
OES火花光電直讀光譜測(cè)試儀OES火花光電直讀光譜測(cè)試機(jī)器設(shè)備提供三種配置的選擇：不同的波長范圍和不同的元素程序組合。金屬中所有重要元素都可以檢測(cè)，包括痕量C﹑...
OES火花光電直讀光譜測(cè)試儀器 參考價(jià)：169609
OES火花光電直讀光譜測(cè)試儀器OES火花光電直讀光譜測(cè)試化驗(yàn)機(jī)器設(shè)備多可設(shè)置十種基體（包括鐵基，鋁基，銅基，鎳基，鈷基，鈦基，鎂基，鋅基，錫基和鉛基）的幾十所元...(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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