HAMEG 惠美 HZ530 有源近場探頭套件 Near-Field Probe Set

HZ 530 HZ-530

HZ530 探頭套件由用于 EMI 診斷的三個有源寬帶探頭組成。這些探頭可與輸入阻抗為50Ω的HAMEG頻譜分析儀相連。探頭可通過頻率分析儀或電池來供電。這些探頭具有細長的外形，因此甚至在空間狹窄的測試環境中也可接觸到測試對象。
磁場探頭可提供一個與頻譜分析儀的磁場強度成正比的信號。這樣就可以很高的精度找到干擾源。
高阻抗探頭可用于確定觸點、線路和印刷電路板上的干擾電平。
電場探頭在這三種探頭中靈敏度zui高。它可用于評估被測設備中的總體屏蔽和濾波效果。

技術指標（23°C±2°C時）