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[供應]美國泰克 BSA系列 誤碼率測試儀

貨物所在地:廣東深圳市

產地:美國

更新時間:2025-02-22 15:17:47

有效期:2025年2月22日 -- 2025年8月25日

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美國泰克 BSA系列誤碼率測試儀
BERTScope 誤碼率測試儀為測量串行數據系統的信號完整性提供了一種全新方式。 通過在眼圖分析與 BER 碼型生成之間搭起一座橋梁,您可以更迅速、更準確、更全面地執行誤碼率檢測。 BERTScope 誤碼率測試儀系列可以簡便地隔離有問題的位和碼型順序,使用高級誤碼分析功能,進一步進行分析,實現*的統計測量深度。

美國泰克 BSA系列誤碼率測試儀?

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美國泰克 BSA系列誤碼率測試儀?產品簡介

 

BERTScope 誤碼率測試儀為測量串行數據系統的信號完整性提供了一種全新方式。 通過在眼圖分析與 BER 碼型生成之間搭起一座橋梁,您可以更迅速、更準確、更全面地執行誤碼率檢測。 BERTScope 誤碼率測試儀系列可以簡便地隔離有問題的位和碼型順序,使用高級誤碼分析功能,進一步進行分析,實現*的統計測量深度。


主要性能指標

  • 高達28.6 Gb/s的碼型發生、誤碼分析和高速BER測試能力
  • 快速輸入上升時間/高輸入帶寬錯誤檢測器,準確分析信號完整性
  • 物理層測試套件,支持模板測試、抖動峰值、BER輪廓和Q因子分析,使用標準或用戶自定義抖動容限模板庫進行*測試
  • 集成眼圖和BER相關分析
  • 選配抖動分離及定位(Jitter Map)系統,提供豐富的抖動解析 – 支持長碼型(如PRBS-31)
  • 已獲得誤碼定位分析技術(Error Location Analysis™ ),迅速了解BER性能限制,評估確定性誤碼與隨機性誤碼,執行詳細的碼型相關誤碼分析,執行誤碼突發分析或無誤碼間隔分

 

BSA系列誤碼率測試儀 主要特點及應用

 

(1)經校準的集成經校準的集成壓力生成技術,滿足多種標準壓力接收機靈敏度和時鐘恢復抖動容限測試要求

  • 高 100MHz 的正弦抖動 (SJ) 頻率
  • 隨機抖動 (RJ)
  • 有界不相關抖動 (BUJ)
  • 正弦干擾 (SI)
  • 擴展頻譜時鐘
  • PCIe 2.0 和 3.0 接收機測試
  • F/2 抖動生成,執行 8xFC和 10GBASE-KR 測試
  • IEEE 802.3ba 和 32G 光纖通道測試

(2)加壓力的電眼圖測試包括:

  • PCI express
  • 10/40/100Gb 以太網
  • SFP+/SFI
  • OIF/CEI
  • 光纖通道(FC8、FC16、FC32)
  • SATA
  • USB 3.1
  • InfiniBand(SDR、QDR、FDR、EDR)

(3)抖動余量 (Margin) 測試、抖動容限*性模板測試
(4)集成眼圖和 BER 相關分析

 

應用

  • 包括信號完整性、抖動和定時分析在內的設計驗證
  • 高速復雜設計方面的設計檢定
  • 串行數據流和高性能網絡系統認證測試
  • 設計/驗證高速I/O組件和系統
  • 信號完整性分析 – 模板測試、峰值抖動、BER輪廓、抖動分離及定位 (Jitter Map) 和 Q 因子分析
  • 設計/驗證光收發機

 

BSA系列誤碼率測試儀 主要技術參數

 

型號

BSA85C-BSA125C-BSA175C-BSA286CL

數據輸出

數據率范圍

BSA85C

 0.1 至 8.5 Gb/s

BSA125C

 0.1 至 12.5 Gb/s

BSA175C

 0.5 至 17.5 Gb/s

BSA286CL

 1 至 28.6 Gb/s

格式

 NRZ

極性

 正常或反相

可變交叉點電平范圍

 25 - 75%

碼型

硬件碼型

 工業標準的 PRBS 碼型: 2n – 1,n=7,11,15,20,23,31 

RAM 碼型

 128 位~128Mb。每個 A/B 頁面中 A 或 B 各有 32Mb,共兩組 A/B 頁面。 單頁面  大 128Mb

碼型數據庫

 基于 K28.5 或 CJTPAT 碼型的 SONET/SDH, 光纖通道碼型;2n 碼型n=3,4,5,6,7,9;  2n 標記密度碼型,n=7,9,23;其他

誤碼插入

長度

 1、2、4、8、16、32、64長度突發序列

頻率

 單個或者重復

時鐘輸出

頻率范圍

BSA85C

 0.1 ~ 8.5 GHz

BSA125C

 0.1 ~ 12.5 GHz 1

BSA175C

 0.5 ~ 17.5 GHz 1

BSA286CL

 1-28.6 GHz 1

 除另行指明外,上升時間測量值是從20%上升到80%的時間。這些技術數據是在20分鐘預熱后獲得的。技術數據如有變  更,恕不另行通告說 1 時鐘輸出頻率在11.2 Gb/s以上的數據速率時÷2。

相噪

時鐘輸出分頻比

 <-90dbc>選項僅STR (參見時鐘路徑細節如下。)

 數據時鐘幅度和偏置

配置

 差分輸出,差分每一路可獨立設置端接、幅度和偏置

接口

 DC 耦合,50 歐姆反向端接,3.5mm 連接器。可選校準到 75 歐姆端接,其他阻抗通過  面  板輸入。可更換的 Planar Crown® 適配器,可換為其他類型連接器。

預設邏輯電平

 LVPECL、LVDS、LVTTL、CML、ECL、SCFL

端接電壓

 可變,-2V~2V預設值: +1.5、+1.3、+1、0、–2 V、AC 耦合

允許的幅度、端接和偏置電壓

 參見下圖。

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 允許的幅度擺幅在 0.25 - 2.0 V 之間;應落在下圖陰影區域內部。例如,SCFL 使  用 0 V 端接,在大約 0 V 和 –0.9 V 之間運行。如圖中虛線箭頭所示,它落在工作范圍  內。

BSA參數插圖 (2)

 數據時鐘波形性能

上升時間

 25 ps max,23 ps 典型值 (10-90%),1 V 幅度,8.0 Gb/s 速率

抖動

1 Measured at designated rate with PN15 pattern, BER 10-12.

BSA85C

 ≤12 psp-p TJ (@8.0 Gb/s) 典型值

 ≤700 fs RMS 隨機抖動 (@8.0 Gb/s) 典型值

BSA125C, BSA175C

 <500 fs RMS 隨機抖動 (@10.3125 Gb/s) 典型值l

BSA286CL

 ≤8 psp-p TJ (@28.05 Gb/s) 典型值

 ≤300 fs RMS 隨機抖動 (@28.05 Gb/s) 典型值

 時鐘/數據延遲

范圍

 以下情況全部大于 1 比特周期

 ≤1.1GHz 30 ns

 >1.1GHz 3 ns

分辨率

 100 fs

自校準

 在時間測量時,當溫度或者比特率改變,推薦進行儀器自校準。校準過程小于 10s。

外形尺寸

 220×394×520(高×寬×厚)

 物理特性

重量

 25kg(*儀器);34.5kg(毛重)

電源

 460 W,100 至 240 VAC (±10%),50 至 60 Hz

環境特征

  暖機時間20 分鐘

  工作溫度范圍10℃ 至 35℃(50℉ 至 95℉)

  工作濕度無水汽凝結,35℃(95℉),15 - 65%

  證書EU EMC Directive (CE-Marked),LVD 低壓指令,US Listed UL61010-1,加     拿大認證 CAN/CSA61010-1

 

BSA系列誤碼率測試儀 訂貨信息

 

 BERTScope BSA 系列誤碼率分析儀

 所有型號包括:用戶手冊,電源線、鼠標,三條低損耗短電纜

 BSA85C

 單通道 BERTScope 8.5 Gb/s 誤碼率分析儀

 BSA125C

 BERTScope 12.5 Gb/s 誤碼率分析儀

 BSA175C

 BERTScope 17.5 Gb/s 誤碼率分析儀

 BSA286CL

 BERTScope 28.6 Gb/s 誤碼率分析儀

 BSA286CL-260選項:CA

 BERTScope 選項;把 BSA260C 轉換成 BSA286CL(序列號范圍:280500 - 280633,  減去 280619 和 280629)

 BSA286CL-260選項:CB

 BERTScope 選項;把 BSA260C 轉換成 BSA286CL(序列號范圍: 280634 -  280699,加上 280619 和 280629)

 BSA286CL-260選項:CC

 BERTScope 選項;把 BSA260C 轉換成 BSA286CL(序列號范圍:280700 及以上)

 時鐘恢復儀器

 CR125A

 CR175A

 12.5 Gb/s 時鐘恢復儀器

 17.5 Gb/s 時鐘恢復儀器

 CR286A

 28.6 Gb/s 時鐘恢復儀器

 數字預加重處理器

 DPP125C

 1~12.5Gb/s 3 階和選項 4 階數字預加重處理器

 

BSA系列誤碼率測試儀儀器選件

BSA 選項

選項 F2:在 8G/10.3125G 速率的 F/2 抖動生成(需要 STR 選項)

選項 STR:壓力信號產生(包括 ECC、MAP、PL、XSSC、JTOL)

選項 XSSC:擴展 SSC 選項(包含在 STR 選項中)

選項 PCISTR:增加PCIe Gen2擴展壓力生成

選項 J-MAP:增加抖動分離軟件

選項 ECC:增加誤碼糾錯仿真軟件(包含在 STR 選項中)

選項 JTOL:增加抖動銅線模板測試軟件(包含在 STR 選項中)

選項 LDA:增加實時數據分析軟件

選項 MAP:增加誤碼映射分析軟件(包含在 STR 選項中)

選項 PL:增加物理層測試套件(包含在 STR 選項中)

選項 PVU:增加 PatternVu 均衡處理軟件

選項 SF:增加符號過濾軟件(用于 STR) 1

選項 SLD:增加壓力在線數據軟件選項

選項 CA1:提供單次校準服務或按校準間隔校準

選項 C3:校準服務 3 年

選項 R3:3 年維修服務(包括保修)

選項 R3DW:維修服務覆蓋 3 年(包括產品保修期)。3 年期限從客戶儀器購買時間開始計算

1 本型號包含在選項 STR 中。

 

時鐘恢復儀器選項

               選項                

 說明

CR125A

CR175A

CR286A

 PCIE

 PCIe PLL 分析(需要 12GJ,僅工作在 2.5G 和 5G)

X

X

X

 PCIE8

 PCIe PLL 分析(需要 12GJ,僅工作在 2.5G、5G 和 8G)

X

X

X

 HS

 增加高靈敏度時鐘恢復

 

X

X

 XLBW

 增加擴展環路帶寬

X

X

X

 12GJ

 在 CR125A 中增加 11.2G 頻譜分析

X

 

 

 17GJ

 在 CR175A 中增加 11.2G 頻譜分析

 

X

 

 28GJ

 在 CR286A 中增加 11.2G 頻譜分析

 

 

X

 CA1

 提供單次校準服務或按校準間隔校準

X

X

X

 C3

 校準服務 3 年

X

X

X

 R3

 3 年維修服務(包括保修)

X

X

X

 R3DW

 維修服務覆蓋 3 年(包括產品保修期)。3 年期限從客戶儀器購買時間開始計算

X

X

X

 

數字預加重處理器選項

選項 4T:4 階數字預加重處理器

選項 ECM:眼圖張開器,時鐘復用器,時鐘倍頻器

選項CA1:單次校準或功能校驗

選項C3:校準服務 3 年

選項R3:3 年維修服務(包括保修)

選項R5:5 年維修服務(包括保修)

選項R3DW:維修服務覆蓋 3 年(包括產品保修期)。3 年期限從客戶儀器購買時間開始計算。

 

推薦附件

 

LE160/LE320:16 Gbps / 32 Gbps,2通道線性均衡器

CR125ACBL:成套高性能延遲匹配電纜(SSC應用中BERTScope和CRU要求)

100PSRTFILTER:100 ps 上升時間濾波器

BSA12500ISI:差分 ISI 板

PMCABLE1M:精密相位匹配電纜對,1 m

SMAPOWERDIV:SMA 電源分路器

BSARACK:BSA-機架安裝套件

BSAUSB31:帶電纜的儀器交換機及自動軟件套件(支持USB 3.1 5和10Gb/s)

BSAUSB3:帶電纜的儀器交換機及自動軟件套件(支持USB 3.1 5Gb/s)

BSASWITCH:儀器交換機,帶電纜

BSAUSB3SFT:USB3自動軟件

 

 

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