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紅外氣體分析儀測量誤差來源有哪些？
閱讀：2864發布時間：2017-8-1
紅外氣體分析儀是基于被測介質對紅外光有選擇性吸收而建立的一種分析方法,屬于分子吸收光譜分析法。使紅外線通過裝在一定長度容器內的被測氣體,然后通過測定通過氣體后的紅外線輻射強度來測量被測氣體濃度。
紅外氣體分析儀在測量過程中會遇到不同的環境，從而對結果造成一定的誤差，那么常見的誤差來源有哪些呢？
1、光路不平衡干擾：
一臺紅外線氣體分析儀預熱后通入氮氣時，輸出很大，這是由于切光片相位不平衡及光路不平衡引起，因此只要調整相位調節選鈕使輸出達到小，再調整光路平衡選鈕使輸出zui小即可。然后同零點氣和量程氣，反復校準儀表零點和量程。
2、水分干擾：
零點氣中若有水分，紅外線氣體分析器標定后，會引起負誤差，在近紅外區域，水有連續的特征吸收波譜，若標定用的零點氣中含有水分時，將造成儀器的零位的負偏，標定后儀器示值必然比實際值偏低，從而起負誤差。
3、溫度變化的干擾：
紅外線氣體分析儀檢測過程需要在恒定的溫度下進行。環境溫度發生變化將直接影響紅外光源的穩定，影響紅外輻射的強度，影響測量氣室連續流動的氣樣密度，還將直接影響檢測器的正常工作。如果溫度大大超過正常狀態，檢測器的輸出阻抗下降，導致儀器不能正常工作，甚至損壞檢測器。紅外分析儀內部一般有溫控裝置及超溫保護電路，即使如此，有的儀器示值特別是微量分析儀器，亦可觀察出環境溫度變化對檢測的影響，在夏季環境溫度較高時尤為明顯。在這種情況下，需改變環境溫度，設置空調是一種解決辦法。
4、大氣壓力波動的干擾：
大氣壓力即使在同一個地區、同一天內也是有變化的。若天氣驟變時，變化的幅度較大。大氣壓力的這種變化，對氣樣放空流速有直接影響。經測量氣室后直接放空的氣樣，會隨大氣壓力的變化使氣室中氣樣的密度發生變化，從而造成附加誤差。
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