光譜式測量為CCFL、LED背光LCD及OLED等平板顯示技術提供了zui高精度的亮度、色度測量。現有的光譜式測量的主要不足是需要很長的測試時間。Photo Research的A-TAKT™系列光譜式輻射度計彌補了這一不足，實現了光譜式精度的實時產線測試。
A-TAKT™系列包含三款——V-7HS、V-7WD和V-6AQL，針對FPD產線測試不同測試應用。具有如下總的特點：
| 特點 | 優勢 |
| 采用制冷型CCD探測器 | 有效抑制暗噪聲及雜散光；可調取、使用測試對象的圖像，不需通過目鏡觀測；保持產線測試環境中的測試穩定性 |
| 高靈敏度，高速 | 快速測試弱光信號 |
| 多孔徑光闌可選（1.0°，1.25°，1.50°，0.50°）；可定制 | 多種亮度測試動態范圍可選，滿足不同光斑尺寸等測試需求 |
| 多光譜帶寬可選（2，5，8nm） | 針對不同帶寬光源具有更好的度 |
| 物鏡（定焦50mm到變焦75mm的鏡頭可供選擇）；可定制 | 方便滿足客戶不同工作距離、光斑尺寸等測試需求 |
| “EasyProfile”技術 | 針對不同測試對象的自分析技術，使設備在確保科學級的準確性和度前提下實現zui快測試速度 |
| 易于開發的SDK軟件包；可定制 | 與產線測試需求實現*化的整合 |
| RS232和USB接口以及加固的附件； | 增加儀器在惡劣環境中的使用安全 |
| 自帶1/4-20 SAE螺紋孔 | 便于安裝、固定 |
1、V-7HS是三者中靈敏度zui高、測試速度zui快的機型，可在不影響測試度和重復測試精度的前提下，zui短時間內實現zui大數量的產品測試——毫秒時間內實現低亮度測試，在僅250ms的測試時間內實現0.5cd/m2的微弱亮度測試（測試LED背光LCD）；幾秒鐘內實現完整的灰度等級、Gamma和色度測試（取決于亮度等級和測試數量）等。
V-7HS：高精度，快速測量，針對于低亮測試應用
2、V-7WD則提供了高速測量的解決方案，針對高亮背光模組、LED模組等高度和重復精度的*化測試。具備更寬的亮度測試范圍：0.002-60000 cd/m2（如測試白光LED），近乎實時的快速、高、高重復性光譜輻射度計。
V-7WD：快速，高光譜分辨率，適用于高亮發光源測試
3、而V-6AQL則專為簡潔的工業檢測量身定制，針對關鍵環節的測量，如AQL、IQC及OQC等提供的解決方案。一方面具有更低成本，另一方面光譜式設計保證度和重復精度，滿足或優于客戶的生產需求。
V-6AQL：經濟、便攜的解決方案，適用于QC/QA測試
4、靈活的定制——由于產線測試環境的不同（如工作距離、測試區域和系統控制接口等），如上述表格，A-TAKT™系列提供有不同配置，包括鏡頭的定制（滿足不同工作距離、光斑尺寸的測試需求），易于開發的SDK包以更快捷、輕松集成到用戶的ATE系統， 針對不同測試對象的“EasyProfile”自分析技術等。
| 規格參數 | V-7HS | V-7WD | V-6AQL |
| 探測器 | 512 | 512 | 128 |
| 制冷探測器 | 是 | 是 | 否 |
| 標準孔徑 | 1.25° | 2.0° | 1.0° |
| 物鏡 | 定焦：50mm； 變焦：75mm（定制） | ||
| 光譜帶寬 | 2nm | 8nm | 8nm |
| 亮度范圍 （白光LED測試） | 0.001-600 cd/m2 | 0.002-60000 cd/m2 | 0.6-80000 cd/m2 |
| 測試時間 （白光LED） | 250ms@0.5cd/m2 | 60ms@10,000cd/m2 | 70ms@10,000cd/m2 |
| 測試時間 （標準A光源） | 450ms@0.5cd/m2 | 75ms@10,000cd/m2 | 86ms@10,000cd/m2 |
| 亮度度 （標準A光源） | ±2%@0.005 cd/m2 | ±2%@0.01 cd/m2 | ±2%@0.5 cd/m2 |
| 亮度范圍 （標準A光源） | 0.0005-2,900 cd/m2 | 0.001-30,000 cd/m2 | 0.3-40,000 cd/m2 |
| 尺寸（mm） | 270×170×188 | 270×170×188 | 192×170×117 |
| 重量（kg） | 4.33 | 4.33 | 2.14 |
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