雜質濃度測試儀
產品簡介
原理：根據硅、鍺單晶的遷移率、電阻率和雜質濃度的關系，可直接測量、計算出晶體內的雜質濃度。
雜質濃度測試儀適用范圍：它適合于測量橫截面尺寸是可測量的，而且棒的長度大于橫截面線度的有規則的長棒，例如橫斷面為圓形、正方形、長方形或梯形的單晶或多晶錠
用途：根據測量沿錠長雜質濃度的分布狀況決定產品的合格部分，通過雜質濃度的直接測量，決定晶體生長過程中的摻雜數量。
樣品可在常溫或低溫下測量。
顯示方式：儀器連接PC機，通過測試軟件計算，用對數坐標的方式來顯示雜質濃度（含次方數）沿錠長的分布曲線，可對曲線圖進行打印和保存。
測量范圍： 可測晶體電阻率：0.005-3000Ω·cm。
直流數字電壓表測量范圍：0-199.99mV，靈敏度：10μA。
實驗室光電濁度儀 臺式光電濁度儀 型號：WZT-3AS 1.WZT系列光電濁度儀用途概述:Summary of functions
3.儀器特點：Product Characteristic ◇ 外高雅大方，操作及顯示角度,適合現代化實驗室環境。 ◇ 微電腦數據處理，校準數據保存功能，校準后可長期使用，觸摸式鍵盤。Rs232數據輸出通訊接口。 ◇ 采用LCD背光液晶顯示濁度, 日期時間顯示功能, 具有打印功能（可配接打印機需另購,訂貨前說明）。 ◇ *的定位結構及高精度的光路系統，有效保證測量值的正確性及重復性。儀器能長時間穩定工作。 ◇ 寬廣的測量范圍，精準的顯示示值，能滿足特種濁度分析、低濁度分析、不穩定濁度分析及適合于各行業使用。 ◇ 精確的量程自動切換裝置，及其可靠的線性補償系統，使得測量數據更準確、穩定性更好。 ◇ 增加了色度補償系統，有效的避免試樣顏色引起的干擾，能正確反映濁度的概念。 ◇ 采用高質量的進口集成電路和光電檢測元件，有較高的整機穩定性。 ◇ 特制高效穩定長壽命光源系統，測量可達10萬小時，免維護使用，無更換之憂慮。
恒溫金屬浴 試管恒溫儀型號：SG-24 恒溫金屬浴又稱試管恒溫儀是在原恒溫水浴基礎上新研制的新一代試管恒溫儀。儀器的加熱塊采用鋁合金擠壓成型，具有熱 容量大、熱阻小、加熱均勻等特點。 儀器采用智能型數字顯示溫度，隨意設定、自動恒溫、使用方便。 儀器設有數顯定時裝置，用戶可在0-999小時內任意調節計時時間。
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