三豐高精度非接觸測量系統LSM-503S

測量范圍：0.3-30mm

產地：日本

產品描述

實現非接觸，高速和高精度測量

多用途型，  測量范圍從0.3mm - 30mm。
高測量精度，在全測量范圍內達±1.0um。在窄測量范圍內達±(0.6+0.1ΔD)um高測量精度。
高重復精度達±0.1um。

技術參數
測量范圍：             0.3—30mm
分辨率：                0.00002一0.1mm可選
20℃時的直線度*：  寬范圍：±1.0um
                            窄范圍：±(0.6+0.1ΔD)um
重復精度(±2σ)：     ±0.11um
定位誤差**：         ±1.5um
測量區域：             10x30mm
激光波長：             650nm，可見光
掃描速率：             3200 scans/s
激光掃描速度：       226m/s
激光適用標準：       IEC，FDA (544-536)，JIS (544-535)
*在測量區域中心
**在測量區域中由于工件定位的變化造成可能的測量錯誤ΔD=校正規和

三豐高精度非接觸測量系統LSM-503S產品說明：

射外徑測定機用高速掃描光素可以測量於傳統儀器難以測量的工作，如易碎或彈性零件，零件，需保持清結的零件，和在測量力作用下變形的零件，透明零件也可以測量。

三豐高精度非接觸測量系統LSM-503S特點：

1.每秒3200次高速雷射掃描可實現自動生產線上的***率測量。
2.測量單位的安裝型結構可實現各種測量。
3. LSM-500S專門為測量密線而設計。
4.防塵/防水保護級符合IP-64。
5.各測量單元的光學特性屬據可儲存在被提供的ID單元。

射外徑測定機用高速掃描光素可以測量於傳統儀器難以測量的工作，如易碎或彈性零件，零件，需保持清結的零件，和在測量力作用下變形的零件，透明零件也可以測量。