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上海奧析科學儀器有限公司
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貨物所在地：上海上海市
更新時間：2025-03-31 21:00:08
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微量痕量紫外分光光度計
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產品簡介詳細介紹
梅特勒 PL403精密天平技術參數
型號
AE124C
AE224C
AE223C
AE323C
AE523C
實際分度值
g
0.0001
0.001
zui大稱量范圍
120
220
320
520
可重復性標準偏差
校準砝碼值
100
200
500
類型
內校
天平的外形尺寸
mm
365×223×338
包裝的外部尺寸
500×310×450
秤盤尺寸
Ф90
風罩有效容積
160×165×200
凈重
Kg
5.5
毛重
8
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