IOL間歇壽命試驗系統HK-IOL-16H 參考價：面議
測試各種封裝的MOSFET、IGBT、三極管、Diode（小電流器件）進行連續工作壽命和間歇工作壽命試驗。間歇工作壽命試驗利用芯片的反復開啟和關閉引起的反復高溫...
IGBT/SIC模塊功率循環試驗系統 參考價：面議
IGBT/SIC模塊功率循環試驗系統華科智源-功率循環老化設備主要是針對IGBT/SIC的封裝可靠性行進行實驗,通過控制實驗條件再現IGBT封裝的主要兩種失效方...
SIC碳化硅器件參數測試儀HUSTEC-3000 參考價：面議
SIC碳化硅器件參數測試儀HUSTEC-3000功能及主要參數： 適用碳化硅二極管、IGBT模塊\\MOS管等器件的時間參數測試。
HUSTEC-DC-2020分立器件測試儀 參考價：面議
HUSTEC-DC-2020分立器件測試儀設備擴展性強，通過選件可以提高電壓、電流和測試品種范圍。在PC窗口提示下輸入被測器件的測試條件點擊即可完成測試任務。系...
MOS管動態參數測試儀ITC57300 參考價：面議
MOS管動態參數測試儀ITC57300ITC57300是美國ITC公司設計生產的高集成度功率半導體分立器件動態參數測試設備，采用測試主機+功能測試頭+個性板的測...
大功率IGBT靜態參數測試儀HUSTEC-1200A-MT 參考價：面議
大功率IGBT靜態參數測試儀HUSTEC-1200A-MT華科智源IGBT電參數測試儀，可用于多種封裝形式的IGBT的測試，還可以測量大功率二極管、IGBT模塊...
IGBT雙脈沖測試平臺PT-1224 參考價：面議
IGBT雙脈沖測試平臺PT-1224該設備用于功率半導體模塊（IGBT、FRD、肖特基二極管等）的動態參數測試，以表征器件的動態特性，通過特制測試夾具的連接，實...
IGBT靜態參數測試儀HUSTEC-1600A-MT 參考價：面議
IGBT靜態參數測試儀HUSTEC-1600A-MT華科智源功率器件測試儀，測試二極管 、IGBT，MOS管，SIC器件靜態參數，并生產器件傳輸曲線和轉移曲線，...
博達微FS-Pro半導體參數測試系統 參考價：面議
博達微FS-Pro半導體參數測試系統是一款功能全面、配置靈活的半導體器件電學特性分析設備，在一個系統中實現了電流電壓 (IV) 測試、電容電壓 (CV) 測試、...
吉時利全自動半導體參數分析儀 參考價：面議
吉時利全自動半導體參數分析儀4200A-SCS參數分析儀加快各類材料、半導體器件和*工藝的開發，完成制程控制、可靠性分析和故障分析。4200A-SCS是業內性能...
力鈦科（Letak）半導體靜動態測試系統 參考價：面議
LET-2000D力鈦科（Letak）半導體靜動態測試系統是滿足IEC60747-8/9、JESD24標準，旨在幫助工程師解決器件驗證、器件參數評估、驅動設計、...
同惠TH511半導體C-V特性分析儀 參考價：面議
同惠TH511半導體C-V特性分析儀TH510系列半導體C-V特性分析儀是同惠電子針對半導體材料及器件生產與研發的分析儀器。TH510系列半導體C-V特性分析儀...
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