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日本電子JSM-IT210掃描電子顯微鏡

數(shù)據(jù)采集簡單！

JSM-IT210是日本電子制造的最小巧的落地型掃描電子顯微鏡。

5軸馬達(dá)驅(qū)動使得操作更安心和快速；而且因?yàn)檠b有“Simple SEM"，只需選好微區(qū)就能自動觀察和分析。

JSM-IT210是一款小巧的可無人操作的新一代SEM。

日本電子JSM-IT210掃描電子顯微鏡

主要特點(diǎn)                                                                                                                                      

1.  安全簡單的樣品交換導(dǎo)航

①  按照導(dǎo)航指示放入樣品

②  利用抽真空的間隙做好觀察準(zhǔn)備

③  自動開始觀察

2.  無需放大光學(xué)圖像，SEM像“Zeromag“聯(lián)動

 “Zeromag"是樣品臺示意圖、光學(xué)圖像和SEM像聯(lián)動功能，樣品臺上放置多個(gè)樣品或觀察特定位置時(shí)，很容易找到要觀察的區(qū)域。

3.  觀察過程中實(shí)時(shí)進(jìn)行元素分析“Live Analysis"

“Live Analysis"是實(shí)時(shí)顯示特征x射線和元素面分布的功能，可以邊觀察邊尋找目標(biāo)元素。

4.  多彩的自動測試“Simple SEM"功能

  “Simple SEM"是只需設(shè)定觀察區(qū)域就進(jìn)行自動拍攝的功能。

5.  強(qiáng)大的自動測試支持功能

   高精度樣品臺助力自動測試。樣品臺位置精度的提高，使得多點(diǎn)多域的連續(xù)測試和自動測試更加實(shí)用。

6.  標(biāo)準(zhǔn)搭載60 mm2大口徑EDS，分析速度更快

*  在短時(shí)間內(nèi)可以獲得與傳統(tǒng)EDS相同質(zhì)量的光譜，同時(shí)也能夠高效地進(jìn)行多點(diǎn)分析。

*  熱敏感樣品也可以安心測試

   傳統(tǒng)的EDS技術(shù)需要大電流來進(jìn)行分析，對于熱敏感的樣品可能會因?yàn)闊釗p傷而導(dǎo)致形變，從而影響元素面分布的分析。

   60 mm2的EDS，可以通過降低照射電流量來獲取元素面分布，這樣可以減少熱損傷并進(jìn)行分析。

*  即使在短時(shí)間內(nèi)，也能獲得清晰的元素面分布圖

   60mm2 的EDS只測1分鐘，也可以獲得足夠清晰的元素面分布圖。