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Keithley吉時(shí)利2601B-PULSE脈沖發(fā)生器
  • Keithley吉時(shí)利2601B-PULSE脈沖發(fā)生器
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更新時(shí)間:2024-05-13 09:55:17

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Keithley吉時(shí)利2601B-PULSE脈沖發(fā)生器Keithley 2601B-PULSE 系統(tǒng)源表® 10μs 脈沖發(fā)生器/SMU集成高電流源/高速脈沖發(fā)生器和傳統(tǒng)SMU的全部功能在一個(gè)儀器上。行業(yè)10A和10V量程10μs脈沖和雙1 MS / s數(shù)字化功能顯著提高測(cè)試能力,應(yīng)用場(chǎng)景從臺(tái)式表征儀器到高度自動(dòng)化生產(chǎn)測(cè)試。

Keithley吉時(shí)利2601B-PULSE脈沖發(fā)生器

Keithley 2601B-PULSE 系統(tǒng)源表® 10μs 脈沖發(fā)生器/SMU集成高電流源/高速脈沖發(fā)生器和傳統(tǒng)SMU的全部功能在一個(gè)儀器上。行業(yè)10A和10V量程10μs脈沖和雙1 MS / s數(shù)字化功能顯著提高測(cè)試能力,應(yīng)用場(chǎng)景從臺(tái)式表征儀器到高度自動(dòng)化生產(chǎn)測(cè)試。

 

實(shí)現(xiàn)高保真度脈沖,無需手動(dòng)進(jìn)行脈沖調(diào)諧

2601B-PULSE控制環(huán)路系統(tǒng)能消除大到3μH感抗的手動(dòng)調(diào)諧, 在10A內(nèi)任意量程,脈沖從10μs到 500μs的輸出,確保您的脈沖沒有超調(diào)和振鈴。脈沖的上升時(shí)間< 1.7μs,保證你可以正確的進(jìn)行器件表征或電路測(cè)試。

  • 輸出10A@10V,10 μs脈沖寬度
  • 脈沖的上升時(shí)間< 1.7μs
  • 高保真度的脈沖輸出,任何電流量程都不需要調(diào)整

KI10A RiseTime

2601B Pulse Pulser Plus SMU

將快速脈沖發(fā)生器和SMU的功能整合在一臺(tái)儀器中

2601B-PULSE增強(qiáng)了脈沖功能,提供*的測(cè)量完整性,您可以了解行業(yè)Keithley 2601B 源表的同步性,高速和準(zhǔn)確性。

  • 脈沖發(fā)生器0.05%的基本測(cè)量精度與1Ms/s的數(shù)字化器
  • 源表100 nA微小電流量程與100 fA靈敏度
  • 后面板BNC端口支持快速電纜設(shè)置

為不足的生產(chǎn)吞吐量提供嵌入式腳本和連接性

測(cè)試腳本處理器(TSP®)技術(shù)在SMU儀器中嵌入并執(zhí)行完整的測(cè)試程序,以提供業(yè)界性能。®TSP-Link技術(shù)支持多達(dá)32個(gè)TSP-Link節(jié)點(diǎn)的擴(kuò)展,以創(chuàng)建高速的SMU-Per-Pin并行測(cè)試,而無需大型主機(jī)。

  • 消除了電腦連接的總線通信的延遲
  • *的數(shù)據(jù)處理和流程控制
  • 多連接32個(gè)TSP-Link節(jié)點(diǎn)
  • 隨著測(cè)試需求的變化,可以輕松地重新配置

2601B PUlse Embedded Scripting

Keithley吉時(shí)利2601B-PULSE脈沖發(fā)生器

 

TOF/LIDAR應(yīng)用激光二極管(VCSEL)的生產(chǎn)測(cè)試

激光二極管的理想解決方案垂直腔表面發(fā)射激光器(VCSEL) LIV生產(chǎn)測(cè)試, 2601B-PULSE系統(tǒng)源表其高速度和高精度的10μs脈沖發(fā)生器為VCSELs,VCSEL組和激光雷達(dá)模塊提供電流脈沖源和電壓電流監(jiān)測(cè)。源表提供了高性價(jià)比的LIV儀器與高系統(tǒng)同步和吞吐量。

  • 可編程脈沖電流源10A和10µs脈沖寬度
  • 電壓和電流的測(cè)量分辨率在100 nV和100 fA
  • 內(nèi)置的TSP®處理能力減少電腦和儀器的總線通信
  • 簡(jiǎn)化了LED的脈沖和直流的IV特性

    2601B-PULSE*的電流脈沖、直流電壓和電流能力使高速LED直流和脈沖IV表征和生產(chǎn)測(cè)試具有0.015%的基本測(cè)量精度。脈沖測(cè)試MicroLED、LED或高亮LED(HBLED)可大限度地減少自熱,減少對(duì)測(cè)量精度的負(fù)面影響,并消除對(duì)被測(cè)設(shè)備損壞的擔(dān)憂。

  • 可編程電流源10A和10µs脈沖寬度
  • 電壓和電流的測(cè)量分辨率在100 nV和100 fA
  • 1Ms/s,用于快速采集源和測(cè)量數(shù)據(jù)
  • 內(nèi)置的TSP處理能力減少了電腦和儀器的總線通信
  • 晶圓半導(dǎo)體測(cè)試

    Keithley的2601B-PULSE和其他2600B系列系統(tǒng)源表儀器通過機(jī)架組合,可伸縮性和靈活性與基于大型機(jī)的系統(tǒng)的集成和高吞吐量相結(jié)合,使用TSP和TSP- link技術(shù)來減少制造封裝和測(cè)試成本。這些儀器通常用于激光二極管、LED、晶體管等晶圓半導(dǎo)體測(cè)試。

  • 內(nèi)置的TSP處理能力減少了電腦和儀器的總線通信
  • TSP可多與32臺(tái)儀器保證在500 ns同步,與其他Keithley TSP儀器同步
  • 2601B-Pulse On Wafer Semiconductor Testing

 

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