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| 產地類別 | 進口 | 價格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 化工,能源,電子/電池,汽車及零部件,電氣 |
奧林巴斯OLYMPUS超聲波測厚儀38DL PLUS主要特性：
可與雙晶探頭和單晶探頭兼容
寬泛的厚度測量范圍：0.08毫米到635毫米，具體可測厚度根據材料和所選探頭而定
使用雙晶探頭進行腐蝕測厚操作
穿透涂層（THRU-COAT）和回波到回波測量功能，用于測量表面帶有漆層和涂層的材料
內部氧化層/沉積物軟件選項
對于所有探頭，標準分辨率為0.01毫米
在使用頻率范圍為2.25 MHz ～ 30 MHz的單晶探頭時，高分辨率軟件選項可進行分辨率為0.001毫米的厚度測量
多層軟件選項可同時對多層材料的各層進行厚度測量，最多可同時測量4層
高穿透軟件選項用于測量玻璃纖維、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料
厚度、聲速和渡越時間的測量
差分模式和縮減率模式
時基B掃描模式；每次掃查可獲得10000個可回顧的讀數
帶有數字式濾波器的奧林巴斯高動態增益技術
用于自定義V聲程補償的V聲程創建功能
設計符合EN15317標準
奧林巴斯OLYMPUS超聲波測厚儀38DL PLUS技術參數：
| 工作溫度范圍 | -10°C～50°C |
| 鍵區 | 密封、以色彩區分功能的鍵盤，帶有觸感及聲音反饋 |
| 機殼 | 防撞擊、防水、裝有密封墊的機殼；機殼上的接口密封。設計符合IP67標準 |
| 外型尺寸（寬 x 高 x 厚） | 總體尺寸：125毫米x211毫米x46毫米 |
| 重量 | 0.814公斤 |
| USB | 1.0從接口 |
| 厚度范圍 | 0.080毫米～635.00毫米，視材料、探頭表面條件、溫度和所選配置而定 |
| 材料聲速范圍 | 0.508 mm/μs～13.998 mm/μs |
| 分辨率（可選擇） | 低分辨率：0.1毫米 |
| 標準分辨率：0.01毫米 | |
| 高分辨率（可選項）：0.001毫米 | |
| 探頭頻率范圍 | 標準：2.0 MHz～30 MHz（-3 dB） |
| 高穿透（可選項）：0.50 MHz～30 MHz（-3 dB） |
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