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美國Calmetrics 電鍍膜厚標準片
用于校正X射線金屬鍍層測厚儀，通用于所有品牌所有型號的XRF機器。對XRF機器進行檢驗和校正。
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美國Calmetrics 電鍍膜厚標準片
美國Calmetrics 電鍍膜厚標準片每片厚度均通過美國國家標準與技術研究院(National Institute of Standards and Technology，NIST）鑒定機構認證（有證書）,其專門為儀器大廠如Fischer、Oxford、Thermo、Veeco、Micro Pioneer、Seiko等生產制作標準樣品。
又名膜厚儀校準片，專業用于X射線測厚儀（膜厚儀）在測金屬鍍層厚度時進行的標準化校準及建立測試檔案。也就是我們在膜厚測試中常用的標準曲線法，是測量已知厚度或組成的標準樣品，根據熒光X-射線的能量強度及相應鍍層厚度的對應關系，來得到標準曲線。之后以此標準曲線來測量未知樣品，以得到鍍層厚度或組成比率。對于PCB、五金電鍍和半導體等行業使用測厚儀來檢測品質和控制成本起到了很重要的作用。
薄片類型：（以下為常規厚度，上海益朗儀器有限公司http://www.shylyq。。ｃｏｍ接受非標定做）
量測成份： | 厚度值（單位：μm） |
ALUMINUM (Al) | 1.00、3.00、5.00、12.5 |
CADMIUM (Cd) | 1.00、2.00、5.00、10.0、15.0 |
CHROMIUM (Cr) | 0.05、0.10、0.25、0.50、1.00、2.00、5.00、10.0 |
COBALT (Co) | 0.05、0.10、0.25、0.50、1.00、2.00、3.00 |
COPPER (Cu) | 0.10、0.25、0.50、1.00、2.00、5.00、10.0、20.0、35.0 |
GOLD (Au) | 0.05、0.10、0.25、0.50、1.00、2.00、3.00、5.00 |
IRON (Fe) | 2.00、6.00 |
LEAD (Pb) | 0.25、1.00、2.00、4.00、9.00 |
NICKEL (Ni) | 0.10、0.25、0.50、1.00、2.00、2.50、3.00、5.00、8.00、10.0、20.0、27.5 |
NICKEL-PHOSPHORUS (Ni-P, 8% P) | 2.50、6.00、9.00、18.0 |
PALLADIUM (Pd) | 0.10、0.25、0.50、1.00、2.00、3.00、5.00 |
PLATINUM (Pt) | 0.50、1.00 |
SILVER (Ag) | 0.10、0.25、1.00、2.00、5.00、10.0、20.0、30.0 |
SOLDER (Sn-Pb) | 5.00、6.00、10.0、14.0（60%Sn）5.00、6.00、14.0（90%Sn） |
TIN (Sn) | 0.10、0.25、0.50、1.00、2.00、5.00、10.0、20.0、40.0、60.0 |
TITANIUM (Ti) | 0.50、1.00、5.00、10.0 |
ZINC (Zn) | 2.50、10.0、20.0 |
用于校正X射線金屬鍍層測厚儀，通用于所有品牌所有型號的XRF機器。對XRF機器進行檢驗和校正。
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