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當前位置：上海富瞻環(huán)保科技有限公司>>分析儀器>>粒度儀粉體設備>> SediGraph III PLUS全自動 X 光沉降粒度分析儀
| 產地類別 | 國產 | 分散方式 | 干濕法分散 |
|---|---|---|---|
| 價格區(qū)間 | 面議 | 儀器種類 | 動態(tài)光散射 |
| 應用領域 | 環(huán)保,化工,生物產業(yè),石油,制藥/生物制藥 |
麥克默瑞提克 SediGraph III PLUS 全自動 X 光沉降粒度分析儀
在過去的四十多年中，麥克公司的 SediGraph 是*眾多實驗室粒度分析的標準儀器。無論是在惡劣的生產環(huán)境中還是在實驗室里，SediGraph 憑借其的性能，能夠獲得可靠精確的測量結果。該儀器采用X-光沉降法測量粒徑分布，通過檢測樣品對X射線的吸收直接測量顆粒質量。SediGraph 根據斯托克斯定律，通過測量顆粒在已知性質液體中的沉降速率，能夠得出粒徑范圍在0.1μm-300μm間樣品顆粒的等效球徑。
產品介紹：
在過去的四十多年中，麥克公司的 SediGraph 是全 球眾多實驗室粒度分析的標準儀器。無論是在惡劣的生產環(huán)境中還是在實驗室里，SediGraph 憑借其的性能，能夠獲得可靠精確的測量結果。該儀器采用X-光沉降法測量粒徑分布，通過檢測樣品對X射線的吸收直接測量顆粒質量。SediGraph 根據斯托克斯定律，通過測量顆粒在已知性質液體中的沉降速率，能夠得出粒徑范圍在0.1μm-300μm間樣品顆粒的等效球徑。
新一代的 SediGraph III Plus 粒度分析儀結合了經典的和改進的顆粒分析技術，能夠提供具備更高重復性和精確度的顆粒粒徑信息，并且進一步加快了測試速度，在幾分鐘內即可完成測試。
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