目錄:束蘊儀器（上海）有限公司>>表面分析>>離子源系統(tǒng)>> GCIB 40離子源系統(tǒng)
| 供貨周期 | 現(xiàn)貨 |
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簡介：
GCIB-40 離子源系統(tǒng)是一種40 kV氣體團簇離子束，產(chǎn)生團簇離子聚焦束，用于需要對分子離子敏感的分析應用。
GCIB 40在較大程度地減少碎片和從表面去除完整分子方面具有優(yōu)異的處理能力。在40千伏電壓下工作的GCIB 40提供了優(yōu)異的電離產(chǎn)率，進一步增強了分子信號。
GCIB-40 離子源系統(tǒng)具有可選擇的簇大小，從單體到10000多個，斑點大小小于3µm，是分析完整分子離子的強大工具，具 有高空間分辨率。
可在J105 SIM上使用，或作為選定第三方儀器的升級。請與我們聯(lián)系以獲取更多信息。
主要參數(shù)：
| 主要應用 | 分析 |
| 光斑尺寸 | 3 µm |
| 掃描范圍 | 0.9 x 0.9 mm |
| 能耗范圍 | 10 – 40 kV |
| 電流范圍 | 200 nA |
| 法蘭至機頭長度 | 168 ± 5 mm |
| 推薦工作距離 | 25 mm |
| 電源裝置 | 6U x 19’’ rack mountable unit |
| 電源要求 | 110-240VAC 13A 50/60Hz |
| 軟件要求 | PC running Windows 10 or later |
| 集成法蘭規(guī)格 | NW 63 CF |
特點:
◇ 40 kV氣體團簇離子束，光斑尺寸為3µm；
◇ 實時集群測量和調(diào)整；
◇ 從單體到>10000的可選簇；
◇ 使用一系列氣體運行，包括Ar、CO2、Ar/CO2混合氣體；
◇ 水源團簇升級可用；
應用技術(shù)：
由于離子束和分子信號的丟失，有機樣品的SIMS分析通 常會導致碎片。使用GCIB，可以減少損傷，以便對材料進行分析和深度剖面。
然而，在近束能量（<40 kV）下，GCIB的二次離子產(chǎn)額可能較低。在更高的能量下操作會產(chǎn)生更高的二次離子產(chǎn)率，同時仍然保持低損傷特性。
下圖顯示了在分析有機樣品時，離子產(chǎn)額如何與束流能量成比例。盡管一次離子劑量保持不變，但來自Irganox 1010薄膜的二次離子信號從20kV到40kV一次束能量增加了五倍以上。 同時，在所有的光束能量中，碎片幾乎保持不變。
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