觸摸屏 高低溫試驗箱

產(chǎn)品描述：

高低溫試驗箱（GDW系列）系列在箱體結構、制冷系統(tǒng)、控制技術方面均做出了很大改進，使其技術指標更穩(wěn)定，運行更可靠，操作、維護更方便。本系列產(chǎn)品廣泛用戶、航天、電子、儀器儀表、電工產(chǎn)品、材料、零部件、設備等作高低溫例行試驗、耐寒試驗、低溫儲存，以便對試驗中擬定環(huán)境條件下的性能、行為做出分及評價。

觸摸屏 高低溫試驗箱

型號：THC-225PF

技術參數(shù)：

1.溫度范圍：-40℃～150℃
2.濕度范圍：20%～98%R.H
3.溫度均勻度：≤±2℃（空載時）
4.濕度均勻度：+2%-3%R.H
5.溫度波動度：≤±0.5℃（空載時）
6.濕度波動度：±2%
7.溫度偏差：≤±2℃
8.濕度偏差：≤±2%
9.降溫速率：0.7～1.0℃/min
10.升溫速率：1.0～3.0℃/min
11.時間設定范圍：0～999小時
12.電源電壓：380V±10%
13.設備總功率：3KW～15KW

執(zhí)行與滿足標準
GB11158-2008 高溫試驗箱技術條件
GB10589-2008低溫試驗箱技術條件
GB10592-2008高低溫試驗箱技術條件（溫度交變）
GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分;試驗方法 試驗A;低溫（IEC60068-2-1;2007）
GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分;試驗方法 試驗B;高溫（IEC60068-2-1;2007）
GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗第2部分;試驗方法 試驗N;溫度變化（IEC60068-2-14）
GJB150.3A-2009設備實驗室環(huán)境試驗方法第3部：高溫試驗
GJB150.4A-2009設備實驗室環(huán)境試驗方法第3部：低溫試驗