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　　掃描電鏡高溫原位系統通過MEMS芯片對樣品施加熱場控制，在原位樣品臺內構建熱場自動控制及反饋測量系統，結合EDS、EBSD等多種不同模式，實現從納米甚至原子層面實時、動態監測樣品在真空環境下隨溫度變化產生的微觀結構、相變、元素價態、微觀應力以及表/界面處的原子級結構和成分演化等關鍵信息。

　　應用：

　　1、材料科學研究：用于研究材料在高溫下的力學性能、變形、斷裂等失效機制的微觀過程，為新材料的設計和優化提供重要支持。

　　2、工程材料設計：通過實時觀察材料在不同應力條件下的微觀結構和變化過程，為工程材料的疲勞壽命預測和性能提升提供依據。

　　3、納米材料研究：結合納米力學測試技術，實時觀察納米材料的變形和斷裂行為，揭示其特殊的力學特性。

　　4、材料相變與晶體生長：通過加熱或冷卻不同材料，實時觀察材料的相變過程和晶體生長機制，有助于對材料結構與性能的影響進行深入了解。

　　掃描電鏡高溫原位系統是應用廣泛的科研儀器，在材料科學研究、工程材料設計等領域發揮著重要作用。