目錄:深圳喬邦儀器有限公司>>電鍍鍍層膜厚分析儀>> XU-100國產X射線熒光測厚儀
| 產地類別 | 國產 | 價格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 醫療衛生,化工,生物產業,電子/電池,包裝/造紙/印刷 |
國產X射線熒光測厚儀硬件配置
主機壹臺
含下列主要部件：
(1)X光管 (2)Si-PIN電制冷半導體探測器
(3)放大電路 (4)高清晰攝像頭
(5)高壓系統 (6)單樣品腔
標準附件
準直孔：Ф0.2mm，Ф0.3mm，Ф0.5mm，Ф1.0mm（可選其中一種）
國產X射線熒光測厚儀技術指標
分析元素范圍：K-U
分析厚度檢出限達0.005μm
高壓：5kV-50kV
x射線熒光測厚儀同時可分析多達5層鍍層
管流：50μA-1000μA
測量時間：5s-300s
樣品腔尺寸：306mm×260mm
計數率:0-10000cps
工作環境要求
工作電源：交流220±5V
周圍不能有強電磁干擾
環境溫度要求：15℃-30℃
環境相對濕度：<70%
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