X射線測鍍層測厚儀原理

測量原理：

物質經X射線或粒子射線照射后，由于吸收多余的能量而變成不穩定的狀態。從不穩定狀態要回到穩定狀態，此物質必需將多余的能量釋放出來，而此時是以熒光或光的形態被釋放出來。熒光X射線鍍層厚度測量儀或成分分析儀的原理就是測量這被釋放出來的熒光的能量及強度，來進行定性和定量分析。

韓國先鋒鍍層測厚儀

XRF-2020

可測單雙鍍層及合金鍍層

適應于各類五金電鍍,電子連接器端子半導體等行業。

可測金,鎳,銅,鋅,錫,銀,鋅鎳合金等鍍層。

應用廣泛，適應電鍍生產企業，產品來料檢測等。

儀器全自動臺面

多點自動測量,自動雷射對焦。

X射線測鍍層測厚儀

韓國先鋒鍍層測厚儀

XRF-2020

測量電鍍層厚度

檢測電子電鍍,五金電鍍,LED支架,端子連接器,半導體等電鍍層厚度

測量鍍金,鍍鋅,鍍鈀,鍍鉻,鍍銅,鍍銀,鍍錫,鍍鎳,鍍鋅鎳合金等