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江蘇德華精密儀器有限公司>>蔡司顯微鏡>> EVO MA 25/LS 25鎢燈絲掃描電子顯微鏡

鎢燈絲掃描電子顯微鏡

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  • 鎢燈絲掃描電子顯微鏡
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參考價 面議
具體成交價以合同協議為準
  • 型號 EVO MA 25/LS 25
  • 品牌 ZEISS/蔡司
  • 廠商性質 代理商
  • 所在地 常州市
在線詢價 收藏產品

更新時間:2021-01-25 16:18:32瀏覽次數:1113

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產品簡介

應用領域 醫療衛生,電子/電池
鎢燈絲掃描電子顯微鏡【品牌故事】
世界可見光及電子光學的企業——德國蔡司公司始創于1846年。其 電子光學前身為LEO(里奧),更早叫Cambridge(劍橋)和Zeiss。積掃描電鏡領域40多年及透射電鏡領域60年的經驗,電子光學成像技術在世界上創造了數個里程碑:

詳細介紹

鎢燈絲掃描電子顯微鏡

詳細描述:

 

 品牌:卡爾·蔡司

 型號:EVO MA 25/LS 25

 制造商:德國卡爾蔡司公司

 

 

 

 

 【品牌故事】 

     世界可見光及電子光學的企業——德國蔡司公司始創于1846年。其 電子光學前身為LEO(里奧),更早叫Cambridge(劍橋)和Zeiss。積掃描電鏡領域40多年及透射電鏡領域60年的經驗,電子光學成像技術在世界上創造了數個里程碑:


    -與AEG公司合作實現了透射電子顯微鏡的商業化(1949)
    -陸續推出的EM9型電子顯微鏡是世界上*具有自動曝光控制的電磁式
    -透射電子顯微鏡TEM(1956)
    -推出EM902型配用Castaing-Henry過濾器商用電子顯微鏡,用戶利用
    -該種新產品能夠得到高分辨率元素分布圖片(1984)
    -配用靜電電磁物鏡(Gemini技術)的場發射掃描電子顯微鏡DSM982
    -Gemini投放市場(1993)
    -推出具有Koehler照明的200KV場發射透射電鏡(2003)
    -推出具有鏡筒內校正Omega能量濾波器的場發射透射電鏡(2003)

    CARL ZEISS其前瞻性和完善的設計,融合歐洲至上的制造工藝, 造就了該品牌在光電子領域的地位。自成立至今,一直延續不 斷創新的傳統,公司擁有廣泛的專有技術,隨著離子束技術和基于電子束的 分析技術的加入,可為您提供鎢燈絲掃描電鏡、場發射掃描電鏡、雙束顯微鏡(FIB and SEM)、透射電子顯微鏡等全系列解決方案。其產品的高性能、 高質量、高可靠性和穩定性已得到世界范圍內廣大用戶的信賴與認可。
    作為一家電子光學產品提供商,我們將為您提供完善的納米技術解決方案,并且以專業化的手段讓您的投資物有所值。無論您是企業還是科研機構,卡爾 蔡司在高質量電子光學系統方面優良的傳統都會為您的業績做出積極的貢獻。

【總體描述】
       EVO系列電鏡是高性能、功能強大的高分辨應用型掃描電子顯微鏡。EVO MA 25用于材料領域,LS 25用于生命科學領域。該系列電鏡采用多接口的大樣品室和藝術級的物鏡設計,提供高低真空成像功能,可對各種材料表面作分析,并且具有業界的X射線分析技術。革命性的Beamsleeve的設計,確保在低電壓條件下提供高分辨率的銳利圖像,同時還可以進行準確的能譜分析。樣品臺為五軸全自動控制。標準的高效率無油渦輪分子泵能夠滿足快速的樣品更換和無污染(免維護)成像分析。

【技術參數】
    分辨率:3.0nm@ 30KV(SE and W)    
             4.0nm@ 30KV(VP with BSD)
     加速電壓:0.2—30KV
     放大倍數:5—1000000x 
     探針電流:0.5PA-5μA
     X-射線分析工作距離:8.5mm    35度接收角
     低真空壓力范圍:10—400Pa (LS25:10-3000Pa)
     工作室:420mm(φ)×330mm(h)
     5軸試樣載物臺:X=130mm  Y=130mm  Z=50mm  T=-10°- 90°R=360°

     較大試樣高度:210mm,試樣大直徑:300mm
     系統控制:基于Windows 7 的SmartSEM操作系統
     存儲分辨率:32,000 × 24,000 pixels

【主要特點】
    大的樣品高度可達210mm  
     大樣品重量5Kg  
     大的樣品直徑300mm 
     能在可變壓力下操作
     高亮度LaB6資源選擇
     光線套選擇

鎢燈絲掃描電子顯微鏡【產品應用】
         掃描電鏡(SEM)廣泛地應用于金屬材料(鋼鐵、冶金、有色、機械加工)和非金屬材料(化學、化工、石油、地質礦物學、橡膠、紡織、水泥、玻璃纖維)等檢驗和研究。在材料科學研究、金屬材料、陶瓷材料、半導體材料、化學材料等領域進行材料的微觀形貌、組織、成分分析,各種材料的形貌組織觀察,材料斷口分析和失效分析,材料實時微區成分分析,元素定量、定性成分分析,快速的多元素面掃描和線掃描分布測量,晶體、晶粒的相鑒定,晶粒尺寸、形狀分析,晶體、晶粒取向測量。

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