| 蘇州瑞格譜光電科技有限公司 |
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X熒光光譜分析儀；XAU：（鍍層測厚-成分分析）
產品類型：能量色散X熒光光譜分析儀
產品名稱：光譜分析儀
產品型號：XAU
產品優勢：
XAU是一款一機多用型光譜儀，應用了EFP算法和微光聚集技術，既保留了測厚儀檢測微小樣品和凹槽的膜厚性能，又可滿足成分分析。
用于各類產品的質量管控、來料檢驗和對生產工藝控制的測量使用。
1）搭載微聚焦X射線發生器和光路轉換聚焦系統，測量面積達0.03mm²
2）擁有無損變焦檢測技術，手動變焦功能，可對各種異形凹槽件進行無損檢測，凹槽深度范圍0-30mm
3）核心EFP算法，可對多層多元素，包括同種元素在不同層都可快、準、穩的做出數據分析（釹鐵硼磁鐵上Ni/Cu/Ni/FeNdB，準確檢測*層Ni和第三層Ni的厚度）
4）配備高精密微型移動滑軌，可實現多點位、多樣品的準確位移和同時檢測
5）裝配Si-Pin半導體探測器，分辨率高，測試速度快，數據穩定
6）涂鍍層分析范圍：鋰Li（3）- 鈾U（92）
7）成分分析范圍：鋁Al（13）- 鈾U（92）
8）人性化封閉軟件，自動判斷故障提示校正及操作步驟，避免誤操作
9）四準直器可選，標配為φ0.3mm，測量面積可達0.03mm²
10）配有微光聚集技術，近測距光斑擴散度小于10%
行業應用：各類精密電子鍍薄金
隨著科技的發展，越來越多的行業開始采用鍍金表面處理，用于提升產品的綜合質量。
電鍍金鍍層耐蝕性強，導電性好，易于焊接，耐高溫，并具有一定的耐磨性(如摻有少量其他元素的硬金)，有良好的抗變色能力，同時金合金鍍層有多種色調，在銀上鍍金可防止變色。
并且鍍層的延展性好，易拋光，故常用作裝飾性鍍層，如鍍首飾、鐘表零件、藝術品等；也廣泛應用于精密儀器儀表、印刷板、集成電路、電子管殼、電接點等要求電參數性能長時間穩定的零件電鍍，但由于金的價格昂貴，應用受到一定限制。故此鍍金產品對于鍍層的管控較為的嚴格，然而由于鍍層極薄，能量弱，穩定性差，想要良好的管控成本及產品質量，就需要一臺性能*的光譜儀進行檢測分析。
XAU可滿足精密電子類客戶對于薄金納米級厚度的管控，實現檢測同一個點的薄金厚度，極差穩定在3-4個納米。
技術參數：
項目 | 描述 |
涂鍍層分析 | 可同時分析23個鍍層，24種元素，不同層有相同元素也可分析，可檢測Li（3）- U（92）涂鍍層90種元素 |
成分分析 | 用于地礦、合金及貴金屬等物質中Al（13）-U（92）的80種元素成分分析 |
EFP算法 | 標配 |
軟件操作 | 人性化封閉軟件，自動判斷故障提示校正及操作步驟，避免誤操作 |
分析時間 | 5-300秒 |
探測器 | Si-Pin半導體探測器 |
X射線裝置 | 微聚焦射線管 |
準直器 | Φ0.5mm； Φ0.3mm； Φ0.2mm； □0.1*0.3mm； 四準直器可選，Φ0.3mm為標配（也可另外定制） |
微光聚焦技術 | 近測距光斑擴散度 10% |
濾光片 | 一種濾光片 |
測量距離 | 具有距離補償功能，可改變測量距離測量凹凸異形樣品，變焦距離可達0-30mm |
樣品觀測 | 1/2.7”彩色CCD，變焦功能 |
對焦方式 | 高敏感鏡頭，手動對焦 |
放大倍數 | 光學38-46X，數字放大40-200倍 |
儀器尺寸 | 470mm*550mm*480mm |
樣品腔高度 | 210mm |
樣品臺移動 | 高精密XY手動滑軌 |
可移動范圍 | 50mm*50mm |
儀器重量 | 45KG |
其他附件 | 電腦一套、打印機、附件箱、十二元素片、電鍍液測量杯（選配）、標準片（選配） |
X射線標準 | DIN ISO 3497、DIN 50987和ASTM B 568 |
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