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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
詳細(xì)介紹
產(chǎn)品概述：
三目正置金相顯微鏡WYJ-56XA采用優(yōu)良的無(wú)限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng)與模塊化功能設(shè)計(jì)理念，可以方便升級(jí)系統(tǒng)，可選配暗場(chǎng)裝置和微分干涉裝置，輕易實(shí)現(xiàn)暗場(chǎng)觀察、DIC微分干涉觀察等功能。導(dǎo)柱升降裝置，可以快速調(diào)整工作臺(tái)與物鏡之間的距離，適用于不同厚度工件表面的金相組織結(jié)構(gòu)與工件表面質(zhì)量進(jìn)行顯微觀察，主要用于精密零件，集成電路，包裝材料等產(chǎn)品檢測(cè)。總放大倍數(shù)：50X-600X。
◆性能特點(diǎn)：
1、立柱高度可調(diào)，尤其適合不同高度的大工件金相組織級(jí)表面觀察。
2、采用了先進(jìn)的無(wú)限遠(yuǎn)光路設(shè)計(jì)，提供了好的光學(xué)系統(tǒng)。
3、無(wú)限遠(yuǎn)長(zhǎng)工作距平場(chǎng)物鏡和大視野平場(chǎng)目鏡，視場(chǎng)寬闊平坦清晰。
4、配置了落射與透射兩套照明系統(tǒng)，可觀察透明試樣與不透明試樣。
5、配置了內(nèi)置推拉式檢偏器與起偏器，適合觀察高反光材料的表面。
6、整機(jī)采用了防霉處理，有效保護(hù)了鏡頭，延長(zhǎng)了儀器的使用壽命。。
◆典型應(yīng)用：
1、分析金屬、礦相內(nèi)部結(jié)構(gòu)組織。2、電子廠(chǎng)PCB板、芯片檢驗(yàn)。3、觀察材料表面的某些特性， 如：劃痕、裂紋、噴涂的均勻性。
三目正置金相顯微鏡WYJ-56XA規(guī)格參數(shù)：
序號(hào) | 名稱(chēng) | 技術(shù)參數(shù) ◆性能特點(diǎn)： 1、立柱高度可調(diào)，尤其適合不同高度的大工件金相組織級(jí)表面觀察。 2、采用了先進(jìn)的無(wú)限遠(yuǎn)光路設(shè)計(jì)，提供了好的光學(xué)系統(tǒng)。 3、無(wú)限遠(yuǎn)長(zhǎng)工作距平場(chǎng)物鏡和大視野平場(chǎng)目鏡，視場(chǎng)寬闊平坦清晰。 4、配置了落射與透射兩套照明系統(tǒng)，可觀察透明試樣與不透明試樣。 5、配置了內(nèi)置推拉式檢偏器與起偏器，適合觀察高反光材料的表面。 6、整機(jī)采用了防霉處理，有效保護(hù)了鏡頭，延長(zhǎng)了儀器的使用壽命。。 ◆典型應(yīng)用： 1、分析金屬、礦相內(nèi)部結(jié)構(gòu)組織。2、電子廠(chǎng)PCB板、芯片檢驗(yàn)。3、觀察材料表面的某些特性， 如：劃痕、裂紋、噴涂的均勻性。 |
01 | 平場(chǎng)目鏡 | 大視野WF10Xφ22mm |
02 | 長(zhǎng)距平場(chǎng)物鏡 | 無(wú)限遠(yuǎn)PL5X/0.10、 PLL10X/0.25、PLL20X/0.40、PLL40X/0.60、PLL60X/0.80 |
03 | 總放大倍數(shù) | 50X-600X |
04 | 觀察頭 | 鉸鏈?zhǔn)饺?30°傾斜 |
05 | 轉(zhuǎn)換器 | 五孔(內(nèi)向式滾珠內(nèi)定位) |
06 | 粗調(diào)調(diào)焦范圍 | 粗微動(dòng)同軸調(diào)焦,帶粗動(dòng)手輪松緊度調(diào)整裝置,微動(dòng)格值:2μm |
07 | 載物臺(tái) | 底座外形尺寸：300mmX240mm |
08 | 偏光裝置 | 檢偏鏡可360°轉(zhuǎn)動(dòng)，起偏鏡、檢偏鏡均可移出光路 |
09 | 落射照明系統(tǒng) | 亮度可調(diào) 鹵鎢燈6V30W 內(nèi)置視場(chǎng)、孔徑光欄、(黃、藍(lán)、綠、磨砂玻璃)濾色片轉(zhuǎn)換裝置 |
10 | 儀器重量 | 凈重11.0公斤 毛重12.5kg |
11 | 儀器尺寸 | 儀器尺寸42X35X38(cm) 包裝尺寸42X35X52(cm) |