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CMI900／950系列X射線螢光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器，可應用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領域，為產品質量控制提供準確、快速的分析。基于Windows2000中文視窗系統的中文版 SmartLink FP 應用軟件包，實現了CMI900/950主機的全面自動化控制。
適用產業：用于電子元件、半導體、PCB印刷電路板、汽車零件、功能性電鍍、連接器、裝飾件。
　　
CMI做為*品牌在PCB，五金瑞子連接器及電鍍行業已形成一個行業標準，南華地區90％以上的大型企業都在使用CMI900系列做為檢測鍍層厚度的行業工具 X-熒光鍍層測厚儀CMI900金屬鍍層厚度的精確測量 CMI900系列X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂／鍍層測量儀器，可應用于材料的涂／鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領域，為產品質量控制提供準確、快速的分析。基于Windows2000 中文視窗系統的中文版SmartLinkFP應用軟件包，實現了對CMI900／950主機的全面自動化控制。
　　
CMI900系列X-射線熒光鍍層厚度測量儀技術參數：
　　A：CMI900X-射線熒光鍍層厚度測量儀，在技術上一直以來都于*的測厚行業.CMI900能夠測量包含原子序號22至92的典型元素的電鍍層、鍍層、表膜和液體，極薄的浸液鍍層（銀、金、鈀、錫等）和其它薄鍍層。區別材料并定性或定量測量合金材料的成份百分含量可同時測定zui多5層、15種元素。
　　B：精確度于世界，精確到0.025um（相對與標準片）
　　C：數據統計報告功能允許用戶自定義多媒體分析報告格式，以滿足您特定的分析報告格式要求；如在分析報告中插入數據圖表、測定位置的圖象、CAD文件等。
　　D：統計功能提供數據平均值、誤差分析、zui大值、zui小值、數據變動范圍、相對偏差、UCL（控制上限）、LCL（控制下限）、CpK圖、直方圖、X-bar／R圖等多種數據分析模式。CMI900／950系列X射線熒光測厚儀能夠測

量多種幾何形狀各種尺寸的樣品；
　　E：可測量任一測量點，zui小可達0.025x0.051毫米樣品臺選擇：CMI900系列采用開槽式樣品室，以方便對大面積線路板樣品的測量。

CMI900系列X-射線熒光鍍層厚度測量儀樣品臺選擇：
CMI900系列采用開槽式樣品室，以方便對大面積線路板樣品的測量。它可提供五種規格的樣品臺供用戶選用，分別為：
一：手動樣品臺
1 標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。
2 擴展型標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。
3 可調高度型標準樣品臺：XY軸手動控制、Z軸自動控制。
二：自動樣品臺
1  程控樣品臺：XYZ軸自動控制。
2  超寬程控樣品臺：XYZ軸自動控制。
CMI950系列采用開閉式樣品室，以方便測定各種形狀、各種規格的樣品。同樣，CMI950可提供四種規格的樣品臺供用戶選用，分別為：
1 全程控樣品臺：XYZ 三軸程序控制樣品臺，可接納的樣品zui大高度為150mm，XY 軸程控移動范圍為300mm x300mm。 此樣品臺可實現測定點自動編程控制。
2 Z軸程控樣品臺：XY軸手動控制，Z軸自動控制，可接納的樣品zui大高度為270mm。
3 全手動樣品臺：XYZ三軸手動控制，可接納的樣品zui大高度為356mm。
可擴展式樣品臺用于接納超大尺寸樣品。