光電探測器噪聲分類：
光電探測器噪聲包括:散彈噪聲、熱噪聲、產(chǎn)生-復合噪聲、1/f噪聲和溫度噪聲等。
1、散彈噪聲：由于光電探測器在光輻射作用或熱激發(fā)下，光電子或載流子隨機產(chǎn)生造成的。存在于真空發(fā)射管和半導體器件中，屬于白噪聲。
2、熱噪聲：暗電流大小與偏壓、溫度及反向飽和電流密切相關(guān)。PN結(jié)外加正向偏壓，暗電流隨外加電壓增大成指數(shù)急劇增大，遠大于光電流，因此加正偏壓無意義。PN結(jié)外加反向偏壓，暗電流隨反向偏壓增大有所增大，*后等于反向飽和電流，其值遠小于光電流。
3、產(chǎn)生-復合噪聲：半導體中載流子產(chǎn)生與復合的隨機性而引起的載流子濃度的起伏。與散彈噪聲本質(zhì)相同，都是由于載流子隨機起伏所致，所以有時將該噪聲歸并為散彈噪聲。不是白噪聲，低頻限噪聲。是光電探測器的主要噪聲源。
4、1/f噪聲：(又稱電流噪聲、閃爍噪聲或過剩噪聲)，低頻噪聲，幾乎所有探測器都存在。探測器表面工藝狀態(tài)對該噪聲影響很大。頻譜近似與頻率成反比。主要出現(xiàn)在1kHz以下的低頻區(qū)，工作頻率大于1kHz時，與其他噪聲相比可忽略。
5、倍增噪聲：光電倍增管。
6、雪崩噪聲：雪崩光電二極管。
7、溫度噪聲：熱探測器本身吸收和傳導等熱交換引起的溫度起伏。
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