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HS半圓階梯試塊
產品介紹：
1、HS半圓階梯試塊(HS試塊)使用時，應將試塊置于適當的木架上。 作為支撐物的木架既不能有損于試塊，也不能產生任何阻尼。
2、SDH橫孔試塊僅在用試塊調整縱波直探頭探傷靈敏度時才使用。縱波直探頭探傷允許采用ゅ3，4，ゅ6當量平底孔三種靈敏度。
GB/T18852-2002《測量接觸探頭聲束特性的參考試塊和方法》 | 半圓階梯試塊（HS 試塊） | 塊 | 1600 | |
橫孔試塊（SDH 試塊） | 塊 | 1340 | ||
GB/T 7233-87《鑄鋼件超聲探傷及質量評級方法》 | ZGZ 系列對比試塊（共 21 塊） | 塊 | 580 | 來料加工價(碳鋼鑄鋼） |
ZGS 對比試塊 | 塊 | 1400 | 來料加工價(碳鋼鑄鋼） |
GB/T18852-2002標準推薦二塊參考試塊HS半圓階梯試塊和SDH橫孔試塊。 本標準為接觸探傷中使用的探頭在固體內產生的聲場提供了測定方法。適用于檢測鍛鋼或軋制鋼、鋁合金或鈦合金產品的探頭測定。 適用的探頭頻率范圍為1MHz~15MHz。1MHz至5MHz最適宜于對鋼鐵產品的檢測，5MHz至15MHz最適宜于對像鋁合金之類的細晶粒結構產品的檢測。
試塊參數尺寸：
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