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出色的光學器件

視野范圍大良好的圖像質量

德國蔡司 ZEISS O-INSPECT 光學測量系統來源于蔡司顯微鏡解決方率技術。與常規鏡頭相比，此鏡頭提供四倍更大觀察視野，使鏡頭周邊區域亦可確保出色的圖像質量。優點:減少測量時間并具有穩定的精度。

更優對比度ZEISS O-INSPECT照明系統

為了獲得精確的測量結果，需要高對比度的圖像。為此，德國蔡司 ZEISS O-INSPECT 光學測量系統配備了一套多功能的照明系統。迴然不同的形狀、紋理和表面顏色可采取不同入射角的方式，讓邊緣顯得清晰可見。

白光

蔡司Dotscan白光探頭可對工件進行非接觸式掃描。用于測量敏感、具反射性或低對比度的表面，這類表面難以使用其它光學探頭進行測顯。