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| 應用領域 | 綜合 |
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德國蔡司 ZEISS DotScan 探頭特點
ZEISS DotScan 是測量自由曲面和細微結構的較好選擇。ZEISS DotScan 采用色階共聚焦白光探頭，特別適用于測量敏感、柔軟、具反射性或低對比度的表面，因為對于這類表面，探針或相機傳感器已超過其能力所及。
蔡司DotScan的應用范圍包括敏感、反射或低對比度的表面。
使用 ZEISS DotScan 時，具高反射性的表面如膝關節(jié)植入物的金屬部件無須注入造影劑，即可進行掃描。因此，使用此探頭也能區(qū)分透明上漆表層和其下方的金屬層。
ZEISS DotScan is available in three sizes for different measuring ranges
德國蔡司 ZEISS DotScan 探頭：用途多樣靈活
ZEISS DotScan 共有三種探頭尺寸，適用于三種不同的測量范圍：10、3 和 1 mm。探頭可在一次 CNC 運行期間全自動更換，以適用于不同的表面，或改換其他光學探頭。
關節(jié)軸每次可移動 2.5 度，可將 ZEISS DotScan 調整到垂直于待測量部件。且由于 ZEISS DotScan 1 mm 的測量角度是 +/- 30 度，因此更大曲率的部件也能測量。再加上探針的操作模式，使得各種材料都能毫無問題地從各種角度進行測量。配合使用轉臺，甚至連 4 軸的測量工作也難不倒 ZEISS DotScan。
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