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泰勒霍普森、粗糙度儀SURTRONIC DUO
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所在地:無錫市
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面議更新時間:2025/3/18 10:49:48
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泰勒霍普森粗糙度儀、SURTRONIC S116
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所在地:無錫市
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泰勒霍普森、粗糙度儀TAYLOR HOBSON S128
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三豐粗糙度儀、SJ210
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型號:
所在地:無錫市
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菲希爾X射線FISCHER XDL230
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菲希爾代理XDL240信息
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泰勒霍普森Talysurf PGI NOVUS
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Form Talysurf Laser泰勒霍普森輪廓儀
Form Talysurf Laser泰勒霍普森輪廓儀,Form Talysurf LASER以相同的速度和精度,激光測量夾角,使表面光滑面和輪廓位于一個法線和...
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面議更新時間:2024/12/20 11:50:07
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泰勒霍普森Form Talysurf PGI NOVUS
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Form Talysurf PGI NOVUS泰勒霍普森
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Form Talysurf CNC泰勒霍普森
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菲希爾X射線測厚儀 XDL230
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所在地:無錫市
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面議更新時間:2024/12/9 13:41:59
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FISCHERSCOPE X-RAY XDL和XDLM
FISCHERSCOPE X-RAY XDL和XDLM,能量色散X射線熒光光譜儀,自動進行材料自動分析和鍍層厚度的無損測量,采用ISO 3497和ASTM B ...
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面議更新時間:2024/6/21 17:24:02
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X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XAN 500
X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY XAN 500 ,通用手持式X射線熒光分析儀,即使材料組合困難復雜的情況下,也可以進行精確的鍍層厚度測量和材料...
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FISCHERSCOPE X-RAY XAN
FISCHERSCOPE X-RAY XAN,根據DIN ISO 3497和ASTM B 568標準進行金屬和貴金屬分析,鍍層厚度測量和RoHS篩查的通用X射線...
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菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XUL 和 XULM
菲希爾FISCHERSCOPE X-RAY XUL 和 XULM,根據DIN ISO 3497和ASTM B 568,用X射線熒光法分析電鍍液和測量鍍層厚度
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泰勒霍普森VA900 視覺光電自準直儀
VA900 具有優秀的量程和分辨率,精度為1 角秒,因而此系統在分度頭的測量與標定和其它角度測量裝置如棱鏡和測角儀等應用中備受歡迎。泰勒霍普森VA900 視覺光...
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面議更新時間:2024/6/21 17:15:38
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TA60 視覺光電自準直儀泰勒霍普森代理
TA60 視覺光電自準直儀泰勒霍普森代理,TA60是一種經濟實惠的雙軸測微尺自準直儀,量程大而且分辨率高。體積小、功能強大、適合裝夾等特點,使其很容易的適用于多...
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泰勒霍普森TA51 視覺光電自準直儀
泰勒霍普森TA51 視覺光電自準直儀,TA51 具有大量程和高測量精度,因而此系統在分度頭的測量與標定和其它角度測量裝置如棱鏡和測角儀等應用中備受歡迎。
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面議更新時間:2024/6/21 17:11:40
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泰勒霍普森棱鏡和多面棱體自動測量系統
泰勒霍普森棱鏡和多面棱體自動測量系統,為了成功的應用到各種行業中,生廠商對棱鏡的制造加工精度和公差要求愈加嚴格。
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