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德国无锡骏展仪器供应FISCHER X-RAY XDL 230 X射线荧光镀层测厚及材料分析仪产品简介：
FISCHERSCOPE X-RAY XDL 230是一款应用广泛的能量色散型X射线荧光镀层测厚及材料分析仪。它非常适用于无损测量镀层厚度、材料分析和溶液分析，同时还能检测大规模生产的零部件及印刷线路板上的镀层。
XDL230 有着良好的长期稳定性，这样就不需要经常校准仪器，比例接收器能实现高计数率，这样就可以进行高精度测量。由于采用了FISCHER基本参数法，因此无论是对镀层系统还是对固体和液体样品，仪器都能在没有标准片的情况下进行测量和分析。
德国FISCHER X-RAY XDL 230 X射线荧光镀层测厚及材料分析仪产品应用：
测量大规模生产的电镀部件
测量镀层，例如：装饰铬
测量电子工业或半导体工业中的功能性镀层
测量印刷线路板
分析电镀溶液
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