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菲希爾熒光測厚儀XULM240的測量原理信息

時間:2025/4/29閱讀:255
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菲希爾熒光測厚儀 XULM240 基于 X 射線熒光光譜分析原理來測量鍍層厚度,具體如下:

X 射線激發(fā):儀器中的微聚焦 X 射線管產生高強度的 X 射線束,當 X 射線照射到被測樣品表面時,會激發(fā)樣品中的原子。對于鍍層和基體材料,由于它們的原子種類不同,原子結構也存在差異。

熒光產生:被激發(fā)的原子會從高能級躍遷到低能級,同時輻射出具有特定能量和波長的 X 射線熒光。不同元素發(fā)出的熒光 X 射線具有特的能量特征,就像人的指紋一樣,是每種元素所有的。例如,金元素發(fā)出的熒光 X 射線能量與銅元素、鎳元素等發(fā)出的能量是不同的。

測量與分析:探測器收集并測量這些熒光 X 射線的能量和強度。根據(jù)不同元素熒光 X 射線的能量可以確定樣品中存在的元素種類,而熒光 X 射線的強度則與該元素在樣品中的含量有關。對于鍍層厚度的測量,通過測量鍍層元素和基體元素熒光 X 射線的強度,并與已知厚度的標準樣品進行對比,再利用特定的算法和校準曲線,就可以精確計算出鍍層的厚度。

這種測量原理具有非接觸、無損的優(yōu)點,能夠快速、準確地測量各種材料表面的鍍層厚度,并且可以同時分析多種元素,適用于不同類型的鍍層和基體材料組合,在工業(yè)生產和質量控制中具有廣泛的應用。


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