Fischerscope X-ray XDL210鍍金層測厚儀

FISCHERSCOPE-X-RAY XDL-210菲希爾X射線測厚儀典型的應用領域有：

? 測量大規模生產的電鍍部件

? 測量薄鍍層，例如裝飾鉻

? 測量電子工業或半導體工業中的功能性鍍層

? 全自動測量，如測量印刷線路板

? 分析電鍍溶液

FISCHERSCOPE®-X-RAY XDL-210菲希爾X熒光射線測厚儀儀器規格

外部尺寸 寬x 深x 高[mm]：570 x 760 x 650

重量 XDL210：90 kg；XDL220：95 kg ；XDL230：105 kg；XDL240：120 kg

內部測量室尺寸 寬x 深x 高[mm]: 460 x 495 (參考“樣品-大高度"部分的說明)

環境要求

操作溫度 10°C – 40°C / 50°F – 104°F

儲藏或運輸溫度 0°C – 50°C / 32°F – 122°F

空氣濕度 ≤ 95 %，無結露