FISCHERSCOPE X-RAY XAN

菲希爾X射線測厚儀FISCHERSCOPE X-RAY特點

• 無錫駿展儀器供應根據DIN ISO 3497和ASTM B 568標準進行金屬和貴金屬分析，鍍層厚度測量和RoHS篩查的通用X射線熒光光譜儀

• 半導體檢測器（PIN和SDD） 確保出色的檢測精度和高分辨率

• XAN 250和252：用于測量鋁，硅或硫之類的輕元素；

• 準直器：固定或4種可切換，最小測量點約為0.3mm

• 基本濾片：固定或6種可切換

• 固定樣品支架或手動XY載物臺

• 攝像頭可輕松定位最佳測量位置

• 無錫駿展儀器供應菲希爾X射線測厚儀樣品高度最多17厘米;