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菲希爾X射線測厚儀、XAN215
FISCHERSCOPE X-RAY XAN 215是一款入門級能量色散型X射線熒光材料分析及鍍層測厚儀，通常用于對珠寶、錢幣和貴金屬等進行無損分析。它適合分析貴金屬及其合金的成分以及測量鍍層的厚度，從元素氯（17）到鈾（92），可同時測定24種元素。正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY 儀器一樣，菲希爾X射線測厚儀,Fischer代理減少了校準儀器所需的時間和精力。Si-PIN的基本參數法，可以在沒有校驗標準片校正的情況下分析固、液態樣品的成分及測量樣品的鍍層厚度。
| 通用規格 | |
| 設計用途 | 采用能量色散型X射線熒光光譜法（EDXRF）， 用以分析貴金屬及其合金的成分以及測量鍍層的厚度 |
| 元素范圍 | 從元素氯（17）到鈾（92），可同時測定24種元素。 |
| 重復性 | 測量金元素時≤1‰，測量時間60秒 |
| 形式設計 | 臺式儀器，測量門向上開啟 |
| 測量方向 | 由下往上 |
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