IT2800源表納安(A) 級低功測試優(yōu)化方案
隨著微電子技術的迅速發(fā)展和設計水平的提高，芯片的集成度和運算數(shù)據(jù)量顯著增大.這導致芯片的功耗急劇增加。因此，芯片需要進行低功耗設計與測試。同樣的生活中的部分電子產(chǎn)品，如 IOT 設備、便攜式電池供電產(chǎn)品等，為了保證較長時間工作狀態(tài)，也必須進行低功耗測試。
低功耗測試的特點
靜態(tài)電流越來越低，uA休眠電流，甚至nA-級漏電流
信號復雜，動態(tài)電流變化范圍大，微安 (uA) 休眠電流到幾百 mA甚至幾A的發(fā)射
電流
電流脈沖寬度窄，一般在幾百微秒至毫秒級
需要高采樣速率和長時間的連續(xù)測量
低功耗測試方案
傳統(tǒng)方案一、高性能電源+數(shù)宇萬用表
這主要是因為低功耗測試往往動態(tài)特性快，需要電源精度高，響應速度快，另外電源本身的回讀速度較慢，為避免漏掉電流突變，常需要配合數(shù)字萬用表來進行數(shù)據(jù)采集。
傳統(tǒng)方案二、電源分析儀+高精度電源/源表
用電源分析儀對數(shù)據(jù)進行分析記錄代替數(shù)字萬用表功能，兩者價格十分高昂，有時還需要配合收費軟件完成測試
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