目錄:上海賽可檢測設備有限公司>>X-Ray檢測設備>> 賽可(SEC)X-RAY檢測設備X-eye NF120 Series
| 產地類別 | 進口 | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應用領域 | 環(huán)保,化工,生物產業(yè),能源,制藥/生物制藥 |
賽可（SEC）X-RAY檢測設備X-eye NF120 Series簡介：
該檢測設備搭載200納米的Nano-focus Tube，廣泛應用于要求檢測Sub-micron單位不良的半導體封裝及Waffer level packaging（WLP)領域里。通過大理石平臺和各個高精度驅動軸，可以更加精準的找到不良部位并且正確的分析不良問題。添加3D CT模塊可進行斷層分析，通過搭載Waffer handle(EFEM)裝置可自動裝卸Waffer，自動檢測，實現(xiàn)Full Auto全自動檢測的設備。
賽可（SEC）X-RAY檢測設備X-eye NF120 Series特點：
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