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當前位置：深圳秋山工業設備有限公司>>光學儀表>>光源>> AQA5500P/AQB5500P日本Anritsu光學傳感裝置波長掃頻激光光源
| 產地類別 | 進口 | 應用領域 | 環保,能源,電子/電池,電氣,綜合 |
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日本Anritsu光學傳感裝置波長掃頻激光光源 Anritsu/安立 AQA5500P/AQB5500P 特點介紹
波長掃頻光源（Wavelength Swept Light Source、波長掃頻激光光源、波長掃頻光源）是產生波長連續變化的激光的光源。
它適用于使用 OFDR（光頻域反射計）進行形狀測量和位移測量，OFDR 是一種利用激光相干性的光學測量方法。
OFDR 方法也被廣泛稱為 FMCW（調頻連續波）方法。
波長掃頻光源用作精密厚度測量、振動測量、表面檢查、工業OCT（工業OCT）等工業應用、眼科OCT和血管內OCT等醫療應用以及位移/波動測量等工業應用的傳感光源。
它應用于廣泛的領域，包括基礎設施/工廠測量應用、長度測量領域等。
安立的波長掃描光源可以連續掃描具有窄線寬的單縱模波長，同時抑制模式跳躍，從而產生高度相干的波長掃描光。
通過使用這種波長掃頻光源，您可以以更高的精度測量更寬的距離范圍。
安立的波長掃描光源通過的光學布置改進了一般的利特曼布置，使其可以利用MEMS掃描鏡實現高速波長掃描。
在該光學系統中，從有效腔端面到MEMS掃描鏡的反射面構造了一個外腔，并且在由腔長決定的多個縱模中，衍射光柵的波長選擇性允許被設計成這樣僅選擇一種模式并振蕩。
日本Anritsu光學傳感裝置波長掃頻激光光源 Anritsu/安立 AQA5500P/AQB5500P 規格參數
精密厚度測量
光學零件厚度測量：玻璃、鏡片等透明物體的厚度測量
薄膜和鋼板的厚度測量和表面粗糙度測量
半導體晶圓厚度測量
振動測量
旋轉體振幅的測量：鉆頭、圓盤等偏心率、表面跳動的測量。
振動體的幅寬測量和頻率測量：揚聲器等。
表面檢查
工件毛刺、劃痕的檢查
測量焊料表面的微小凹凸不平
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