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產(chǎn)品分類品牌分類

半導(dǎo)體光學(xué)檢測系列

SiC襯底位錯缺陷無損檢測系統(tǒng)

SiC晶圓少子壽命質(zhì)量成像監(jiān)測系統(tǒng)

鈣鈦礦太陽能電池綜合性能分析系統(tǒng)

Micro LED晶圓級綜合檢測分析系統(tǒng)

全部產(chǎn)品列表

創(chuàng)銳光譜

全部熱門品牌

碳化硅襯底位錯缺陷光學(xué)無損檢測系統(tǒng) 參考價：面議
碳化硅襯底檢測,碳化硅成像檢測,碳化硅襯底位錯缺陷光學(xué)無損檢測系統(tǒng)：最高檢測速度：＜17min/片（6“）；BPD、TSD、TED分類識別。
型號：廠商性質(zhì)：生產(chǎn)商所在地：大連市對比

SiC襯底位錯缺陷無損檢測無損檢測儀

2024/12/4 11:14:451464
SiC晶圓質(zhì)量成像檢測系統(tǒng) 參考價：面議
碳化硅成像檢測,SiC晶圓質(zhì)量成像檢測系統(tǒng)：晶圓襯底質(zhì)量（載流子壽命）高速成像，快速篩查外延片晶格質(zhì)量。
型號：廠商性質(zhì)：生產(chǎn)商所在地：大連市對比

SiC晶圓少子壽命質(zhì)量成像SiC晶圓質(zhì)量成像檢測系統(tǒng)碳化硅成像檢測

2024/12/4 11:13:58996
鈣鈦礦太陽能電池綜合性檢測分析系統(tǒng) 參考價：面議
鈣鈦礦太陽能電池綜合性檢測分析系統(tǒng)檢測時間＜10 min（10cm*10cm）空間分辨率20 μm/100μm。
型號：廠商性質(zhì)：生產(chǎn)商所在地：大連市對比

分析儀器半導(dǎo)體光學(xué)檢測

2024/12/4 11:10:25637
MICRO LED晶圓級綜合檢測系統(tǒng) 參考價：面議
MICRO LED晶圓級綜合檢測系統(tǒng)明場/PL檢測類型：明場缺陷分析、電極缺陷分析、PL缺陷分析。
型號：廠商性質(zhì)：生產(chǎn)商所在地：大連市對比

半導(dǎo)體光學(xué)檢測晶圓級綜合檢測系統(tǒng)

2024/12/4 11:08:391050

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