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產品簡介
| 產地類別 | 進口 | 價格區間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 儀器種類 | 其它 | 應用領域 | 醫療衛生,環保,綜合 |
日本日立5500M全自動型原子力顯微鏡
1. 自動化功能
高度集成自動化功能追求高效率檢測
降低檢測中的人為操作誤差
產品介紹
日本日立5500M全自動型原子力顯微鏡
日本日立5500M全自動型原子力顯微鏡
特點
1. 自動化功能
高度集成自動化功能追求高效率檢測
降低檢測中的人為操作誤差
4英寸自動馬達臺
自動更換懸臂功能
2. 可靠性
排除機械原因造成的誤差
大范圍水平掃描
采用管型掃描器的原子力顯微鏡，針對掃描器圓弧運動所產生的曲面，通常通過軟件校正方式獲得平面數據。但是，用軟件校正方式不能消除掃描器圓弧運動的影響，圖片上經常發生扭曲效果。
AFM5500M搭載了最新研發的水平掃描器，可實現不受圓弧運動影響的準確測試。
Sample ：Amorphous silicon thin film on a silicon substrate
高精角度測量
普通的原子力顯微鏡所采用的掃描器，在豎直伸縮的時候，會發生彎曲（crosstalk）。這是圖像在水平方向產生形貌誤差的直接原因。
AFM5500M中搭載的全新掃描器，在豎直方向上不會發生彎曲（crosstalk） ，可以得到水平方向沒有扭曲影響的正確圖像。
Sample : Textured-structure solar battery(having symmetrical structure due to its crystal orientation.)
*使用AFM5100N（開環控制）時
3. 融合性
親密融合其他檢測分析方式
通過SEM－AFM的共享坐標樣品臺，可實現在同一視野快速的觀察?分析樣品的表面形貌，結構，成分，物理特性等。
SEM-AFM在同一視野觀察實例（樣品：石墨烯/SiO2）
The ovrlay images createed by using AZblend Ver.2.1, ASTRON Inc.
上圖是AFM5500M拍攝的形狀像（AFM像）和電位像（KFM像）分別和SEM圖像疊加的應用數據。
通過分析AFM圖像可以判斷，SEM對比度表征石墨烯層的厚薄。
石墨烯層數不同導致表面電位（功函數）的反差。
SEM圖像對比度不同，可以通過SPM的高精度3D形貌測量和物理特性分析找到其原因。
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