當前位置:玉崎科學儀器(深圳)有限公司>>Rigaku理學>>半導體測量設備>> XTRAIA XD-3300玉崎科學半導體設備理學Rigaku射線膠片厚度
價格區間 | 面議 | 應用領域 | 醫療衛生,化工,綜合 |
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玉崎科學半導體設備理學Rigaku射線膠片厚度
玉崎科學半導體設備理學Rigaku射線膠片厚度
XTRAIA XD-3300 是一款多功能 射線計量工具,可在大批量生產中以高通量對毯式和圖案化 300 mm 和 200 mm 晶圓上的單層和多層薄膜進行無損分析。
測量結果包括通過 射線反射率 (XRR) 測量的膜厚度、密度和粗糙度,以及通過高分辨率 XRD (HRXRD) 測量的外延膜厚度、成分、應變、晶格弛豫和結晶度。
它支持多種應用,包括在線 XRD/XRR 多層堆疊、金屬薄膜、壓電薄膜、SiGe 和化合物半導體薄膜的厚度和成分分析。您可以根據您的應用選擇最佳的設備配置。
XRD 和 XRR 分析有可能通過內聯實現自動化。
方法 | 高分辨率X射線衍射(HRXRD)、射線反射率(XRR) | |
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目的 | 用于毯狀/圖案外延薄膜的 雙光束(線和 40μm 微點) 圖案識別 | |
X射線源 | 1:9 kW 銅旋轉陽極陰極或 2.2 kW 銅封裝管 2:COLORS™ 混合銅梁模塊,用于測量圖案化晶圓 | |
主要部件 | 整體和圖案晶圓測量 射線光學器件:最多 2 個單色儀 Ge(400) x 2、Ge(220) x 2、Ge(220) x 4 射線探測器:2D (HyPix-3000) 微光斑尺寸、圖案識別、高強度、chi軸 高精度測角儀 | |
特征 | 具有高強度旋轉反陰極和微點束的 COLORS™ 混合銅束模塊 | |
選項 | 單色儀、各種光學組件 GEM300 軟件、E84/OHT 支持 | |
機身尺寸 | 1656(寬)×3689(深)×2289(高)毫米 | |
測量結果 | HRXRD、XRR、搖擺曲線和倒晶格圖 (RSM) |
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