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玉崎科學儀器(深圳)有限公司
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玉崎科學半導體設備理學Rigaku射線膠片厚度

參  考  價面議
具體成交價以合同協議為準

產品型號XTRAIA XD-3300

品       牌其他品牌

廠商性質代理商

所  在  地深圳市

更新時間:2024-09-29 09:45:08瀏覽次數:170次

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價格區間 面議 應用領域 醫療衛生,化工,綜合
玉崎科學XTRAIA XD-3300半導體設備理學Rigaku射線膠片厚度
玉崎科學半導體設備理學Rigaku射線膠片厚度

在線 HRXRD/XRR 測量工具

玉崎科學半導體設備理學Rigaku射線膠片厚度

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毯式晶圓和圖案晶圓的高分辨率 XRD 外延膜表征

XTRAIA XD-3300 是一款多功能  射線計量工具,可在大批量生產中以高通量對毯式和圖案化 300 mm 和 200 mm 晶圓上的單層和多層薄膜進行無損分析。

測量結果包括通過  射線反射率 (XRR) 測量的膜厚度、密度和粗糙度,以及通過高分辨率 XRD (HRXRD) 測量的外延膜厚度、成分、應變、晶格弛豫和結晶度。


XTRAIA XD-3300 概述

它支持多種應用,包括在線 XRD/XRR 多層堆疊、金屬薄膜、壓電薄膜、SiGe 和化合物半導體薄膜的厚度和成分分析。您可以根據您的應用選擇最佳的設備配置。

XRD 和 XRR 分析有可能通過內聯實現自動化。


XTRAIA XD-3300 特點

用于高效處理的內聯功能
用于靈活樣品定位的載物臺和測角儀
利用光束尺寸高達 40 μm 的高分辨率 X 射線束
全自動化功能,實現高效運營
兼容 200 毫米和 300 毫米晶圓
配備2D探測器,精確采集數據
通過*的分析軟件支持全面的數據解釋

XTRAIA XD-3300 規格

方法高分辨率X射線衍射(HRXRD)、射線反射率(XRR)
目的用于毯狀/圖案外延薄膜的
雙光束(線和 40μm 微點)
圖案識別
X射線源1:9 kW 銅旋轉陽極陰極或 2.2 kW 銅封裝管
2:COLORS™ 混合銅梁模塊,用于測量圖案化晶圓
主要部件整體和圖案晶圓測量
射線光學器件:最多 2 個單色儀 Ge(400) x 2、Ge(220) x 2、Ge(220) x 4
射線探測器:2D (HyPix-3000)
微光斑尺寸、圖案識別、高強度、chi軸
高精度測角儀
特征具有高強度旋轉反陰極和微點束的
COLORS™ 混合銅束模塊
選項單色儀、各種光學組件
GEM300 軟件、E84/OHT 支持
機身尺寸1656(寬)×3689(深)×2289(高)毫米
測量結果HRXRD、XRR、搖擺曲線和倒晶格圖 (RSM)


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