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日本Otsuka大塚 粒徑測試系統(tǒng)·ELSZneoSE
| 參考價: | 面議 |
具體成交價以合同協(xié)議為準- 產(chǎn)品型號
- OTSUKA/日本大塚 品牌
- 代理商 廠商性質(zhì)
- 成都市 所在地
訪問次數(shù)：78更新時間：2025-04-23 16:17:07
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產(chǎn)品簡介
| 產(chǎn)地類別 | 進口 | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 綜合 |
“便攜式手持型"重量僅為 1.1 公斤，易于攜帶
“高精度測量和簡單測量" 無需校準曲線即可測量低至 0.1 μm 的測量
“兼容多層薄膜" 最多可測量 3 層多層薄膜
“無損、非接觸式測量"測量，不損壞樣品
“測量各種樣品" 無論基材（玻璃或塑料）如何，都可以進行測量
產(chǎn)品介紹
日本Otsuka大塚 粒徑測試系統(tǒng)·ELSZneoSE-成都藤田科技提供
產(chǎn)品信息
特征
“便攜式手持型"重量僅為 1.1 公斤，易于攜帶
“高精度測量和簡單測量" 無需校準曲線即可測量低至 0.1 μm 的測量
“兼容多層薄膜" 最多可測量 3 層多層薄膜
“無損、非接觸式測量"測量，不損壞樣品
“測量各種樣品" 無論基材（玻璃或塑料）如何，都可以進行測量
規(guī)范
規(guī)格
| 項目 | 專業(yè)版 | 標準 |
| 型 | SM-100P 系列 | SM-100S 系列 |
| 測量方法 | 反射光譜法（光學(xué)干涉法） | |
| 測量薄膜厚度范圍*1 | 0.1~100μm（單層） 1~100μm（多層） | 1~50μm （單層） |
| 多層支持 | 最多 3 層 | 1 層 |
| 測量可重復(fù)性 | 2.1σ 0.01μm （氧化硅膜 1μm） | |
| 測量光斑直徑 | Φ1mm 以下 | |
| 測量時間 | 小于 1 秒 | |
| 數(shù)據(jù)輸出格式 | 以文本格式導(dǎo)出到 U 盤 | |
| 體型 | 約 138 （W） × 198 （D） × 61 （H） 毫米 | |
| 重量 | 約 1.1 千克 | |
| 行駛時間 | 4 小時或更長時間（測量） | |
| 電源電壓/電源 | AC100-240V/35VA （交流適配器輸入） | |
| 防護等級 | IP30/IK06 防護等級 | |
*1 樣品折射率為 1.6 時
日本Otsuka大塚 粒徑測試系統(tǒng)·ELSZneoSE-成都藤田科技提供
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