提供創新型TFM功能的奧林巴斯超聲相控陣探傷儀OmniScan X3

信心滿滿，昭然可見

奧林巴斯超聲相控陣探傷儀OmniScan X3是一個完備的相控陣工具箱。 其性能強大的工具，包括全聚焦方式（TFM）成像和高級可視化能力，在其高質量成像功能的支持下，可使您更加充滿信心地完成檢測。

威力強大，小巧便攜
OmniScan X3 64相控陣探傷儀沿用了已

經現場驗證、堅固耐用、輕盈便攜的Omn

iScan X3外殼，其強大的聚焦功能得到了

更大的晶片孔徑容量的支持，可使您充分利

用64晶片相控陣探頭，進行128晶片孔徑

的TFM檢測。 您可以利用這款儀器的增強

性能，迎接檢測較厚、衰減性較強材料的挑

戰，并提升您的潛力，為更廣泛的應用開

發新程序。

改進的相控陣技術

速度可達到OmniScan MX2探傷儀的3倍（至大脈沖重復頻率）
單獨的衍射時差（TOFD）菜單，加快了校準工作流程
800%的高波幅范圍，減少了重新掃查的需要
機載雙晶線陣和雙晶矩陣探頭的支持性能，加速了創建設置的過程

使用相控陣技術簡化了腐蝕監測
利用相控陣技術進行腐蝕檢測具有很多優勢，其中包括較大的覆蓋范圍和出色的分辨率。 但是，熟練掌握相控陣技術具有一定的挑戰性。 OmniScan X3探傷儀通過精心設計的軟件和簡單流暢的菜單將各種高級功能（閘門同步）組合在一起，可使您更加輕松地獲得準確的數據。 得益于其A掃描同步處理和手動時間校正增益（TCG），您可以快速配置您的設置。

創新、高效的TFM（全聚焦方式）

提前確認TFM（全聚焦方式）聲波覆蓋范圍

聲學影響圖（AIM）工具可以基于您的TFM

（全聚焦方式）模式、探頭、設置和模擬反

射體，即時提供靈敏度的可視化模型。

聲學影響圖（AIM）工具消除了掃查計劃創

建過程中的猜測因素，因為屏幕上會顯示某

個聲波組（TFM模式）的效果圖，使您看

到靈敏度消失的位置，并對掃查計劃進行

相應的調整。

產品技術規格