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波長色散X射線熒光光譜儀的原理和應(yīng)用領(lǐng)域分析
X 射線熒光分析技術(shù)（XRF）作為一種快速分析手段，為相關(guān)生產(chǎn)企業(yè)提供了一種檢測、篩選和控制有害元素含量的有效途徑；相對于其他分析方法，XRF 具有無需對樣品進行特別的化學(xué)處理、快速、方便、測量成本低等明顯優(yōu)勢，特別適合用于各類相關(guān)生產(chǎn)企業(yè)作為過程控制和檢測使用。
在科技部國家重大科學(xué)儀器專項（2012YQ050076）的支持下，鋼研納克針對金屬、建材、地質(zhì)、環(huán)境、礦產(chǎn)等領(lǐng)域?qū)o機元素分析技術(shù)的需求，先后攻克了X射線源、分光光路系統(tǒng)、探測器等關(guān)鍵技術(shù)，成功研制了順序式波長色散X射線熒光光譜儀——CNX-808。
波長色散型X射線熒光光譜儀（WD-XRF）是用晶體分光而后由探測器接受經(jīng)過衍射的特征X射線信號。如果分光晶體和控測器做同步運動，不斷地改變衍射角，便可獲得樣品內(nèi)各種元素所產(chǎn)生的特征X射線的波長及各個波長X射線的強度，可以據(jù)此進行特定分析和定量分析。
波長色散型X射線熒光光譜儀（WD-XRF）是用晶體分光而后由探測器接受經(jīng)過衍射的特征X射線信號。如果分光晶體和控測器做同步運動，不斷地改變衍射角，便可獲得樣品內(nèi)各種元素所產(chǎn)生的特征X射線的波長及各個波長X射線的強度，可以據(jù)此進行特定分析和定量分析。
應(yīng)用領(lǐng)域：
地質(zhì)樣品領(lǐng)域：針對地質(zhì)領(lǐng)域壓片和熔片兩類樣品分別開發(fā)了應(yīng)用方法體系，可以為地質(zhì)研究、找礦提供可靠的檢測數(shù)據(jù)。
建材樣品領(lǐng)域：針對多種建材樣品的分析需求，建立了水泥、涂料等樣品應(yīng)用方法體系，實現(xiàn)對樣品的高精度分析。
新材料樣品領(lǐng)域：能夠解決新材料研究領(lǐng)域?qū)挿o損、全元素分布分析的難題。
生態(tài)環(huán)境領(lǐng)域：針對生態(tài)環(huán)境中的土壤、植物、水系沉積物、空氣顆粒物等樣品的分析需求，建立了整體的解決方案。通過研究不同時期形成的土壤層、沉積層中的有害重金屬元素含量分布特征，為環(huán)境評價提供可靠的指標(biāo)參數(shù)。
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